التفاصيل البيبلوغرافية
| العنوان: |
Research on feature extraction for chip resistors defect based on PCA |
| المؤلفون: |
Pan, M. Q., Chen, L. G., Chen, T., Zhao, M. X., Wang, Z. H. |
| المساهمون: |
Guo, Hai, Ding, Qun |
| المصدر: |
SPIE Proceedings ; 2012 International Workshop on Image Processing and Optical Engineering ; ISSN 0277-786X |
| بيانات النشر: |
SPIE |
| سنة النشر: |
2012 |
| نوع الوثيقة: |
conference object |
| اللغة: |
unknown |
| DOI: |
10.1117/12.918965 |
| الإتاحة: |
https://doi.org/10.1117/12.918965Test |
| رقم الانضمام: |
edsbas.CDFB586F |
| قاعدة البيانات: |
BASE |
