التفاصيل البيبلوغرافية
| العنوان: |
Impacts of SiO2 planarization on optical thin film properties and laser damage resistance |
| المؤلفون: |
Day, T, Wang, H, Jankowska, E, Reagan, B, Rocca, J, Menoni, C, Stolz, C, Mirkarimi, P, Folta, J, Roehling, J, Markosyan, A, Route, R, Fejer, M |
| سنة النشر: |
2021 |
| المجموعة: |
SciTec Connect (Office of Scientific and Technical Information - OSTI, U.S. Department of Energy) |
| مصطلحات موضوعية: |
36 MATERIALS SCIENCE, 42 ENGINEERING, 71 CLASSICAL AND QUANTUM MECHANICS, GENERAL PHYSICS |
| الوصف: |
not provided |
| نوع الوثيقة: |
other/unknown material |
| وصف الملف: |
application/pdf |
| اللغة: |
unknown |
| العلاقة: |
http://www.osti.gov/servlets/purl/1338167Test; https://www.osti.gov/biblio/1338167Test |
| الإتاحة: |
http://www.osti.gov/servlets/purl/1338167Test
https://www.osti.gov/biblio/1338167Test |
| رقم الانضمام: |
edsbas.C7B1A542 |
| قاعدة البيانات: |
BASE |
