التفاصيل البيبلوغرافية
| العنوان: |
Characterization of sputter-deposited YBaCuO films by X-ray photoelectron spectroscopy |
| المؤلفون: |
Behner, H., Gieres, G., Sipos, B. |
| المصدر: |
Fresenius' Journal of Analytical Chemistry ; volume 341, issue 3-4, page 301-307 ; ISSN 0937-0633 1618-2650 |
| بيانات النشر: |
Springer Science and Business Media LLC |
| سنة النشر: |
1991 |
| مصطلحات موضوعية: |
Biochemistry, Analytical Chemistry |
| نوع الوثيقة: |
article in journal/newspaper |
| اللغة: |
English |
| DOI: |
10.1007/bf00321568 |
| DOI: |
10.1007/BF00321568.pdf |
| DOI: |
10.1007/BF00321568/fulltext.html |
| DOI: |
10.1007/BF00321568 |
| الإتاحة: |
https://doi.org/10.1007/bf00321568Test |
| حقوق: |
http://www.springer.com/tdmTest |
| رقم الانضمام: |
edsbas.86822308 |
| قاعدة البيانات: |
BASE |
