دورية أكاديمية
Sub-nm accuracy metrology for ultra-precise reflective X-ray optics
| العنوان: | Sub-nm accuracy metrology for ultra-precise reflective X-ray optics |
|---|---|
| المؤلفون: | Siewert, F., Buchheim, J., Zeschke, T., Brenner, G., Kapitzki, S., Tiedtke, K. |
| المصدر: | Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment ; volume 635, issue 1, page S52-S57 ; ISSN 0168-9002 |
| بيانات النشر: | Elsevier BV |
| سنة النشر: | 2011 |
| المجموعة: | ScienceDirect (Elsevier - Open Access Articles via Crossref) |
| مصطلحات موضوعية: | Instrumentation, Nuclear and High Energy Physics |
| نوع الوثيقة: | article in journal/newspaper |
| اللغة: | English |
| DOI: | 10.1016/j.nima.2010.10.137 |
| الإتاحة: | https://doi.org/10.1016/j.nima.2010.10.137Test https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0168900210024228?httpAccept=text/xmlTest https://api.elsevier.com/content/article/PII:S0168900210024228?httpAccept=text/plainTest |
| حقوق: | https://www.elsevier.com/tdm/userlicense/1.0Test/ |
| رقم الانضمام: | edsbas.57AF564E |
| قاعدة البيانات: | BASE |
| DOI: | 10.1016/j.nima.2010.10.137 |
|---|