التفاصيل البيبلوغرافية
| العنوان: |
Integrated Wafer Scale Growth of Single Crystal Metal Films and High Quality Graphene |
| المؤلفون: |
Burton, Oliver J., Massabuau, Fabien C-P., Veigang-Radulescu, Vlad-Petru, Brennan, Barry, Pollard, Andrew J., Hofmann, Stephan |
| المساهمون: |
Engineering and Physical Sciences Research Council, Department for Business, Energy and Industrial Strategy |
| المصدر: |
ACS Nano ; volume 14, issue 10, page 13593-13601 ; ISSN 1936-0851 1936-086X |
| بيانات النشر: |
American Chemical Society (ACS) |
| سنة النشر: |
2020 |
| نوع الوثيقة: |
article in journal/newspaper |
| اللغة: |
English |
| DOI: |
10.1021/acsnano.0c05685 |
| الإتاحة: |
https://doi.org/10.1021/acsnano.0c05685Test |
| حقوق: |
http://pubs.acs.org/page/policy/authorchoice_ccby_termsofuse.htmlTest |
| رقم الانضمام: |
edsbas.43288B93 |
| قاعدة البيانات: |
BASE |
