مؤتمر
X-Band GaN FET reliability
| العنوان: | X-Band GaN FET reliability |
|---|---|
| المؤلفون: | Jimenez, J. L, Chowdhury, U. |
| المصدر: | 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium |
| بيانات النشر: | IEEE |
| سنة النشر: | 2008 |
| نوع الوثيقة: | conference object |
| اللغة: | unknown |
| DOI: | 10.1109/relphy.2008.4558923 |
| الإتاحة: | https://doi.org/10.1109/relphy.2008.4558923Test http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/4550747/4558854/04558923.pdf?arnumber=4558923Test |
| رقم الانضمام: | edsbas.3720F2C8 |
| قاعدة البيانات: | BASE |
| DOI: | 10.1109/relphy.2008.4558923 |
|---|