Systematic approach of FinFET based SRAM bitcell design for 32nm node and below

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Systematic approach of FinFET based SRAM bitcell design for 32nm node and below
المؤلفون: Song, S. C., Abu-Rahma, M., Han, B. M., Ge, L., Yoon, S. S., Wang, J., Yang, W., Liu, D., Hu, C., Yeap, G.
المصدر: 2009 IEEE International Conference on IC Design and Technology
بيانات النشر: IEEE
سنة النشر: 2009
نوع الوثيقة: conference object
اللغة: unknown
DOI: 10.1109/icicdt.2009.5166287
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/icicdt.2009.5166287Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/5159181/5166240/05166287.pdf?arnumber=5166287Test
رقم الانضمام: edsbas.3592C244
قاعدة البيانات: BASE