التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: |
Advanced EUV CAR small molecule compounds design and its impact to etch performance |
المؤلفون: |
Cen, Yinjie, Park, Jong Keun, Coley, Suzanne M., Naab, Benjamin D., Cui, Li, Aqad, Emad, Alexandrescu, Stefan, Rena, Rochelle, Eckert, Sylvie, Behnke, Jason, Lee, ChoongBong, Petrillo, Karen E. |
المساهمون: |
Guerrero, Douglas, Amblard, Gilles R. |
المصدر: |
Advances in Patterning Materials and Processes XLI |
بيانات النشر: |
SPIE |
سنة النشر: |
2024 |
نوع الوثيقة: |
conference object |
اللغة: |
unknown |
DOI: |
10.1117/12.3010931 |
الإتاحة: |
https://doi.org/10.1117/12.3010931Test |
رقم الانضمام: |
edsbas.1C2E298D |
قاعدة البيانات: |
BASE |