دورية أكاديمية

Analysis of Negative Bias Illumination Stress Induced Effect on LTPS and a-IGZO TFT.

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Analysis of Negative Bias Illumination Stress Induced Effect on LTPS and a-IGZO TFT.
المؤلفون: Agrawal, Khushabu S., Patil, Vilas S., Eun-Chel Cho, Junsin Yiz
المصدر: ECS Journal of Solid State Science & Technology; 2020, Vol. 9 Issue 10, p1-7, 7p
قاعدة البيانات: Complementary Index
الوصف
تدمد:21628769
DOI:10.1149/2162-8777/abc6f0