دورية أكاديمية
Cross-sectional observation in nanoscale for Si power MOSFET by atomic force microscopy/Kelvin probe force microscopy/scanning capacitance force microscopy
العنوان: | Cross-sectional observation in nanoscale for Si power MOSFET by atomic force microscopy/Kelvin probe force microscopy/scanning capacitance force microscopy |
---|---|
المؤلفون: | Doi, Atsushi, Nakajima, Mizuki, Masuda, Sho, Satoh, Nobuo, Yamamoto, Hidekazu |
المصدر: | Japanese Journal of Applied Physics ; volume 58, issue SI, page SIIA04 ; ISSN 0021-4922 1347-4065 |
بيانات النشر: | IOP Publishing |
سنة النشر: | 2019 |
نوع الوثيقة: | article in journal/newspaper |
اللغة: | unknown |
DOI: | 10.7567/1347-4065/ab1642 |
DOI: | 10.7567/1347-4065/ab1642/pdf |
الإتاحة: | https://doi.org/10.7567/1347-4065/ab1642Test |
حقوق: | http://iopscience.iop.org/info/page/text-and-data-miningTest ; http://iopscience.iop.org/page/copyrightTest |
رقم الانضمام: | edsbas.E5EC030E |
قاعدة البيانات: | BASE |
كن أول من يترك تعليقا!