المؤلفون: Turkbay, Tugce, Fang, Li, Rio, Maud, Alix, Thecle, Melot, Julien, Serrano, Fabrice, Dray, Alexandre, Lefranc, Pierre, Lembeye, Yves, Perry, Nicolas, Crebier, Jean-Christophe

المساهمون: Institut de Mécanique et d'Ingénierie (I2M), Université de Bordeaux (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-Arts et Métiers Sciences et Technologies, HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM)-HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM), Laboratoire des sciences pour la conception, l'optimisation et la production (G-SCOP), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP ), Université Grenoble Alpes (UGA), Laboratoire de Génie Electrique de Grenoble (G2ELab ), Ecole Nationale Supérieure de l'eau, l'énergie et l'environnement (ENSE3), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP ), G2Elab-Electronique de puissance (G2Elab-EP), Université Grenoble Alpes (UGA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )

المصدر: SYMPOSIUM DE GÉNIE ELECTRIQUE (SGE 2023) ; https://hal.science/hal-04467498Test ; SYMPOSIUM DE GÉNIE ELECTRIQUE (SGE 2023), Jul 2023, Lille, France

مصطلحات موضوعية: circularité, démontabilité, mesures de facilité de désassemblage, convertisseur électronique de puissance, réparation, carte de circuit imprimé, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

جغرافية الموضوع: Lille, France

العلاقة: hal-04467498; https://hal.science/hal-04467498Test; https://hal.science/hal-04467498/documentTest; https://hal.science/hal-04467498/file/I2M_SGE_Romano-2023.pdfTest

الإتاحة: https://hal.science/hal-04467498Test
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المؤلفون: Turkbay, Tugce, Fang, Li, Rio, Maud, Alix, Thecle, Melot, Julien, Serrano, Fabrice, Dray, Alexandre, Lefranc, Pierre, Lembeye, Yves, Perry, Nicolas, Crebier, Jean-Christophe

المساهمون: Institut de Mécanique et d'Ingénierie (I2M), Université de Bordeaux (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-Arts et Métiers Sciences et Technologies, HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM)-HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM), Laboratoire des sciences pour la conception, l'optimisation et la production (G-SCOP), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP ), Université Grenoble Alpes (UGA), Laboratoire de Génie Electrique de Grenoble (G2ELab ), Ecole Nationale Supérieure de l'eau, l'énergie et l'environnement (ENSE3), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP ), G2Elab-Electronique de puissance (G2Elab-EP), Université Grenoble Alpes (UGA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )

المصدر: SYMPOSIUM DE GÉNIE ELECTRIQUE (SGE 2023) ; https://hal.science/hal-04467498Test ; SYMPOSIUM DE GÉNIE ELECTRIQUE (SGE 2023), Jul 2023, Lille, France

مصطلحات موضوعية: circularité, démontabilité, mesures de facilité de désassemblage, convertisseur électronique de puissance, réparation, carte de circuit imprimé, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

جغرافية الموضوع: Lille, France

العلاقة: hal-04467498; https://hal.science/hal-04467498Test; https://hal.science/hal-04467498/documentTest; https://hal.science/hal-04467498/file/I2M_SGE_Romano-2023.pdfTest

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المؤلفون: Turkbay, Tugce, Fang, Li, Rio, Maud, Alix, Thecle, Melot, Julien, Serrano, Fabrice, Dray, Alexandre, Lefranc, Pierre, Lembeye, Yves, Perry, Nicolas, Crebier, Jean-Christophe

المساهمون: Institut de Mécanique et d'Ingénierie (I2M), Université de Bordeaux (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National de Recherche pour l’Agriculture, l’Alimentation et l’Environnement (INRAE)-Arts et Métiers Sciences et Technologies, HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM)-HESAM Université - Communauté d'universités et d'établissements Hautes écoles Sorbonne Arts et métiers université (HESAM), Laboratoire des sciences pour la conception, l'optimisation et la production (G-SCOP), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP ), Université Grenoble Alpes (UGA), Laboratoire de Génie Electrique de Grenoble (G2ELab ), Ecole Nationale Supérieure de l'eau, l'énergie et l'environnement (ENSE3), Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP ), G2Elab-Electronique de puissance (G2Elab-EP), Université Grenoble Alpes (UGA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )

المصدر: SYMPOSIUM DE GÉNIE ELECTRIQUE (SGE 2023) ; https://hal.science/hal-04467498Test ; SYMPOSIUM DE GÉNIE ELECTRIQUE (SGE 2023), Jul 2023, Lille, France

مصطلحات موضوعية: circularité, démontabilité, mesures de facilité de désassemblage, convertisseur électronique de puissance, réparation, carte de circuit imprimé, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

جغرافية الموضوع: Lille, France

العلاقة: hal-04467498; https://hal.science/hal-04467498Test; https://hal.science/hal-04467498/documentTest; https://hal.science/hal-04467498/file/I2M_SGE_Romano-2023.pdfTest

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https://hal.science/hal-04467498/file/I2M_SGE_Romano-2023.pdfTest

المؤلفون: TURKBAY, Tugce, FANG, Li, RIO, Maud, ALIX, Thecle, MELOT, Julien, SERRANO, Fabrice, DRAY, Alexandre, LEFRANC, Pierre, LEMBEYE, Yves, PERRY, Nicolas, CREBIER, Jean-Christophe

المساهمون: Institut de Mécanique et d’Ingénierie de Bordeaux (I2M)

المصدر: http://hdl.handle.net/10985/24806Test.

مصطلحات موضوعية: circularité, démontabilité, mesures de facilité de désassemblage, convertisseur électronique de puissance, réparation, carte de circuit imprimé, Sciences de l'ingénieur: Electronique

وصف الملف: application/pdf

العلاقة: http://hdl.handle.net/10985/24806Test

الإتاحة: http://hdl.handle.net/10985/24806Test

المؤلفون: Nguyen, Tung Ngoc

مصطلحات موضوعية: découplage, EMI, filtre, propagation du bruit, modélisation du convertisseur de puissance, carte de circuit imprimé

وصف الملف: application/pdf

العلاقة: https://espace.etsmtl.ca/id/eprint/2102/1/NGUYEN_Ngoc_Tung.pdfTest; https://espace.etsmtl.ca/id/eprint/2102/2/NGUYEN_Ngoc_Tung-web.pdfTest; Nguyen, Tung Ngoc (2018). Noise propagation in power converter : modeling and attenuation approaches. Thèse de doctorat électronique, Montréal, École de technologie supérieure.

الإتاحة: https://espace.etsmtl.ca/id/eprint/2102Test/
https://espace.etsmtl.ca/id/eprint/2102/1/NGUYEN_Ngoc_Tung.pdfTest
https://espace.etsmtl.ca/id/eprint/2102/2/NGUYEN_Ngoc_Tung-web.pdfTest

المؤلفون: Vu, Thanh Luan

المساهمون: Rennes 1, Ettorre, Mauro, González Ovejero, David, Sauleau, Ronan

مصطلحات موضوعية: Ondes millimétriques, Guide d'ondes diélectrique, Circuits intégrés radiofréquence, Transition puce-Guide d'ondes, Guide d'ondes intégré au substrat, Carte de circuit imprimé, MM-Waves, Dielectric waveguides, Radio frequency integrated circuits, Chip-To-Waveguide transitions, Substrate integrated waveguides, Printed circuit board technology

العلاقة: http://www.theses.fr/2022REN1S079Test

الإتاحة: http://www.theses.fr/2022REN1S079Test