-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Uzair Ul Haq, Ali Ahmed, Zartasha Mustansar, Arslan Shaukat, Sasa Cukovic, Faizan Nadeem, Saadia Talay, M. Junaid Iqbal Khan, Lee Margetts
المصدر: Engineering Applications of Computational Fluid Mechanics, Vol 16, Iss 1, Pp 1018-1030 (2022)
مصطلحات موضوعية: Cerebral aqueduct, intracranial pressure, obstructive hydrocephalus, fluid–structure interaction, Engineering (General). Civil engineering (General), TA1-2040
وصف الملف: electronic resource
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Tahira Iqbal, Arslan Shaukat, Muhammad Usman Akram, Abdul Wahab Muzaffar, Zartasha Mustansar, Yung-Cheol Byun
المصدر: IEEE Access, Vol 10, Pp 27670-27683 (2022)
مصطلحات موضوعية: Class-imbalance, chest X-rays, classification, deep learning, ensemble, machine learning, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Sanam Banaras, Rehan Zafar Paracha, Maryum Nisar, Ayesha Arif, Jamil Ahmad, Muhammad Tariq Saeed, Zartasha Mustansar, Malik Nawaz Shuja, Rizwan Nasir Paracha
المصدر: Frontiers in Physiology, Vol 13 (2022)
مصطلحات موضوعية: neurological disorders, neurons, microglia, TNF-α, sphingomyelin, network analysis, Physiology, QP1-981
وصف الملف: electronic resource
العلاقة: https://www.frontiersin.org/articles/10.3389/fphys.2022.872421/fullTest; https://doaj.org/toc/1664-042XTest
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Maryum Nisar, Rehan Zafar Paracha, Alvina Gul, Iqra Arshad, Saima Ejaz, Didar Murad, Shahzeb Khan, Zartasha Mustansar
المصدر: Frontiers in Oncology, Vol 12 (2022)
مصطلحات موضوعية: pancreatic cancer, oncolytic viruses, immunotherapy, overexpressed receptors, HADDOCK, adenovirus, Neoplasms. Tumors. Oncology. Including cancer and carcinogens, RC254-282
وصف الملف: electronic resource
العلاقة: https://www.frontiersin.org/articles/10.3389/fonc.2022.832277/fullTest; https://doaj.org/toc/2234-943XTest
-
5دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Access, Vol 9, Pp 145817-145839 (2021)
مصطلحات موضوعية: Chest radiographs, chest x-rays datasets, class-imbalance, deep learning, ensemble, machine learning, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource
-
6دورية أكاديمية
المصدر: Royal Society Open Science, Vol 8, Iss 9 (2021)
مصطلحات موضوعية: intracranial pressure, tumour, CSF, deformation, finite-element modelling, Science
وصف الملف: electronic resource
العلاقة: https://doaj.org/toc/2054-5703Test
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Awais Munawar Qureshi, Zartasha Mustansar, Samah Mustafa
المصدر: Royal Society Open Science, Vol 5, Iss 7 (2018)
مصطلحات موضوعية: brain stroke, finite-element method, forward problem, human head model, inverse problem, microwave imaging, Science
وصف الملف: electronic resource
العلاقة: https://doaj.org/toc/2054-5703Test
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Awais Munawar Qureshi, Zartasha Mustansar
المصدر: PeerJ, Vol 5, p e4061 (2017)
مصطلحات موضوعية: Microwave imaging, Finite element method, Human brain stroke, Forward problem, Inverse problem, Levels of detail, Medicine, Biology (General), QH301-705.5
وصف الملف: electronic resource
العلاقة: https://peerj.com/articles/4061.pdfTest; https://peerj.com/articles/4061Test/; https://doaj.org/toc/2167-8359Test
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Zartasha Mustansar, Samuel A. McDonald, William Irvin Sellers, Phillip Lars Manning, Tristan Lowe, Philip J. Withers, Lee Margetts
المصدر: PeerJ, Vol 5, p e3416 (2017)
مصطلحات موضوعية: X-ray computed tomography, Digital image correlation, Branta leucopsis, Axial loading, Progressive damage, Stress–strain, Medicine, Biology (General), QH301-705.5
وصف الملف: electronic resource
العلاقة: https://peerj.com/articles/3416.pdfTest; https://peerj.com/articles/3416Test/; https://doaj.org/toc/2167-8359Test
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Unqua Laraib, Arslan Shaukat, Rizwan Ahmed Khan, Zartasha Mustansar, Muhammad Usman Akram, Umer Asgher
المصدر: Electronics; Volume 12; Issue 11; Pages: 2416
مصطلحات موضوعية: facial expression recognition, classification, CNN, feature extraction, SVM, DT
وصف الملف: application/pdf
العلاقة: Electronic Multimedia; https://dx.doi.org/10.3390/electronics12112416Test