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1دورية أكاديمية
المؤلفون: Andraud, Vincent, Martins, R Sousa, Zaepffel, Clément, Landfried, Romaric, Teste, Philippe, Lalande, Philippe
المساهمون: DPHY, ONERA, Université Paris Saclay Palaiseau, ONERA-Université Paris-Saclay, Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), The authors wish to thank the French Civil Aviation Authority (DGAC), France Relance and NextGenerationEU for their supports.
المصدر: ISSN: 0022-3727 ; EISSN: 1361-6463.
مصطلحات موضوعية: lightning, arc root, swept-stroke, plasma sheath, cathodic arc root, anodic arc root, aviation safety, [PHYS]Physics [physics], [SPI]Engineering Sciences [physics]
العلاقة: hal-04488553; https://hal.science/hal-04488553Test; https://hal.science/hal-04488553/documentTest; https://hal.science/hal-04488553/file/DPHY2023-105-article_%23JPhysD_accepted_version.pdfTest
الإتاحة: https://doi.org/10.1088/1361-6463/ad2223Test
https://hal.science/hal-04488553Test
https://hal.science/hal-04488553/documentTest
https://hal.science/hal-04488553/file/DPHY2023-105-article_%23JPhysD_accepted_version.pdfTest -
2مؤتمر
المؤلفون: Ferreira, Corentin, Brézard-Oudot, Aurore, Isard, Manon, Noël, Sophie, Houzé, Frédéric, Teste, Philippe
المساهمون: Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Everaxis Aerospace & Defence
المصدر: Proceedings of the 68th Holm Conference on Electrical Contacts ; 68th Holm Conference on Electrical Contacts ; https://centralesupelec.hal.science/hal-04207904Test ; 68th Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2023, Seattle (USA), Washington, United States. pp.278-284, ⟨10.1109/HOLM56075.2023.10352303⟩
مصطلحات موضوعية: Slip ring, Gold contact, Electrical sliding contact, Tribometer, [SPI]Engineering Sciences [physics], [PHYS]Physics [physics]
جغرافية الموضوع: Seattle (USA), Washington, United States
الوقت: Seattle (USA), Washington, United States
العلاقة: hal-04207904; https://centralesupelec.hal.science/hal-04207904Test; https://centralesupelec.hal.science/hal-04207904/documentTest; https://centralesupelec.hal.science/hal-04207904/file/CorentinFerreiraHolmConference2023.pdfTest
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/HOLM56075.2023.10352303Test
https://centralesupelec.hal.science/hal-04207904Test
https://centralesupelec.hal.science/hal-04207904/documentTest
https://centralesupelec.hal.science/hal-04207904/file/CorentinFerreiraHolmConference2023.pdfTest -
3مؤتمر
المؤلفون: Ferreira, Corentin, Brézard-Oudot, Aurore, Isard, Manon, Noël, Sophie, Houzé, Frédéric, Teste, Philippe
المساهمون: Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Everaxis Aerospace & Defence
المصدر: Wear of Materials ; https://hal.science/hal-04121443Test ; Wear of Materials, Apr 2023, Banff, Canada
مصطلحات موضوعية: [PHYS.MECA.MEMA]Physics [physics]/Mechanics [physics]/Mechanics of materials [physics.class-ph]
جغرافية الموضوع: Banff
الوقت: Banff, Canada
العلاقة: hal-04121443; https://hal.science/hal-04121443Test; https://hal.science/hal-04121443/documentTest; https://hal.science/hal-04121443/file/v11.pdfTest
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4مؤتمر
المؤلفون: Ferreira, Corentin, Brézard-Oudot, Aurore, Isard, Manon, Noël, Sophie, Houzé, Frédéric, Teste, Philippe
المساهمون: Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Everaxis Aerospace & Defence
المصدر: Actes des 34èmes Journées Internationales Francophones de Tribologie (JIFT 2023 ) ; 34èmes Journées Internationales Francophones de Tribologie ; https://centralesupelec.hal.science/hal-04128765Test ; 34èmes Journées Internationales Francophones de Tribologie, May 2023, Lille, France. pp. 44-46
مصطلحات موضوعية: [SPI]Engineering Sciences [physics]
العلاقة: hal-04128765; https://centralesupelec.hal.science/hal-04128765Test; https://centralesupelec.hal.science/hal-04128765/documentTest; https://centralesupelec.hal.science/hal-04128765/file/R%C3%A9sum%C3%A9%20-%20JIFT%202023.pdfTest
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5مؤتمر
المؤلفون: Haydar, Luna, Loete, Florent, Houzé, Frédéric, Teste, Philippe, Choupin, Tanguy, Guiche, Fabien
المساهمون: Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), SNCF, SNCF : Innovation & Recherche, SNCF Réseau La Plaine st Denis, ANRT (CIFRE)
المصدر: Proceedings of the 4th International Railway Symposium Aachen ; 4th International Railway Symposium Aachen (IRSA 2023) ; https://centralesupelec.hal.science/hal-04214192Test ; 4th International Railway Symposium Aachen (IRSA 2023), Nov 2023, Aachen (Aix la Chapelle), Germany
مصطلحات موضوعية: deshunting, track circuit, wheel/rail electrical contact, oxidation, test bench, [SPI]Engineering Sciences [physics], [PHYS]Physics [physics]
جغرافية الموضوع: Aachen (Aix la Chapelle), Germany
العلاقة: hal-04214192; https://centralesupelec.hal.science/hal-04214192Test; https://centralesupelec.hal.science/hal-04214192/documentTest; https://centralesupelec.hal.science/hal-04214192/file/IRSA_article_HAYDAR_Luna_vf.pdfTest
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6مؤتمر
المؤلفون: Aichoun, Yousra, Leblanc, Thierry, Boukhlifa, Mohamed, Landfried, Romaric, Teste, Philippe
المساهمون: Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: https://actes.sge-conf.fr/2023/articles/article_450791.htmlTest ; 5ème Symposium de Génie Électrique (SGE 2023) ; https://centralesupelec.hal.science/hal-04274251Test ; 5ème Symposium de Génie Électrique (SGE 2023), Jul 2023, Lille, France. p. 59 - id450791 ; https://sge2023.sciencesconf.orgTest/.
مصطلحات موضوعية: MEA, Arc fault, Défauts d'arc, [SPI]Engineering Sciences [physics], [PHYS]Physics [physics], [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power
العلاقة: hal-04274251; https://centralesupelec.hal.science/hal-04274251Test; https://centralesupelec.hal.science/hal-04274251/documentTest; https://centralesupelec.hal.science/hal-04274251/file/450791EtudeDesPhenomenesPrecurseursLapparitionDunDefautDarcParAmorageHumide.pdfTest
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7دورية أكاديمية
المؤلفون: Kaza, Guy-Léon, Houzé, Frédéric, Loëte, Florent, Teste, Philippe
المساهمون: SNCF Réseau La Plaine st Denis, Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Contrat SNCF
المصدر: ISSN: 2076-3417.
مصطلحات موضوعية: track circuit, deshunting, reliability, wheel-rail contact, [SPI]Engineering Sciences [physics], [PHYS]Physics [physics]
العلاقة: hal-04297829; https://centralesupelec.hal.science/hal-04297829Test; https://centralesupelec.hal.science/hal-04297829/documentTest; https://centralesupelec.hal.science/hal-04297829/file/applsci-13-11752-v2.pdfTest
الإتاحة: https://doi.org/10.3390/app132111752Test
https://centralesupelec.hal.science/hal-04297829Test
https://centralesupelec.hal.science/hal-04297829/documentTest
https://centralesupelec.hal.science/hal-04297829/file/applsci-13-11752-v2.pdfTest -
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Haydar, Luna, Loete, Florent, Houzé, Frédéric, Choupin, Tanguy, Guiche, Fabien, Teste, Philippe
المساهمون: SNCF : Innovation & Recherche, SNCF, Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), SNCF Réseau La Plaine st Denis, ANRT (dispositif CIFRE)
المصدر: ISSN: 2076-3417.
مصطلحات موضوعية: deshunting, track circuit, wheel-rail electrical contact, oxidation, test bench, health monitoring, failure, [SPI.NRJ]Engineering Sciences [physics]/Electric power
العلاقة: hal-04207532; https://centralesupelec.hal.science/hal-04207532Test; https://centralesupelec.hal.science/hal-04207532/documentTest; https://centralesupelec.hal.science/hal-04207532/file/applsci-13-10253-v2.pdfTest
الإتاحة: https://doi.org/10.3390/app131810253Test
https://centralesupelec.hal.science/hal-04207532Test
https://centralesupelec.hal.science/hal-04207532/documentTest
https://centralesupelec.hal.science/hal-04207532/file/applsci-13-10253-v2.pdfTest -
9مؤتمر
المؤلفون: Acquadro, Julien, Noël, Sophie, Chrétien, Pascal, Houzé, Frédéric, Teste, Philippe, Genet, Clément, Hazougaghe, Hiba, Ansart, Florence, Gressier, Marie, Menu, Marie-Joëlle, Montpellaz, Robin, Gavard, Olivier, Leroy, Romain, Trédan, Gérald, Demarthon, Simon, Pichot, Thomas, Raoul, Frédéric, Ladiré, M.
المساهمون: Laboratoire Génie électrique et électronique de Paris (GeePs), CentraleSupélec-Sorbonne Université (SU)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Amphenol-Socapex, Centre interuniversitaire de recherche et d'ingenierie des matériaux (CIRIMAT), Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT), Radiall Voreppe (Radiall ), Souriau ITD EATON, TE Connectivity, IEEE
المصدر: 67th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts
https://centralesupelec.hal.science/hal-03801186Test
67th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2022, Tampa, FL, United States. ⟨10.1109/HLM54538.2022.9969778⟩
https://ieee-holm.orgTest/مصطلحات موضوعية: aluminum, corrosion protection, cadmium, chromium VI, sol-gel coating, carbon fillers, electrical conduction, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials
جغرافية الموضوع: Tampa, FL, United States
العلاقة: hal-03801186; https://centralesupelec.hal.science/hal-03801186Test; https://centralesupelec.hal.science/hal-03801186/documentTest; https://centralesupelec.hal.science/hal-03801186/file/Innovative%20Sol-Gel%20Coatings.pdfTest
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/HLM54538.2022.9969778Test
https://centralesupelec.hal.science/hal-03801186Test
https://centralesupelec.hal.science/hal-03801186/documentTest
https://centralesupelec.hal.science/hal-03801186/file/Innovative%20Sol-Gel%20Coatings.pdfTest -
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Mofakhami, Darius, Seznec, Benjamin, Landfried, Romaric, Teste, Philippe, Dessante, Philippe, Minea, Tiberiu
المصدر: Journal of Applied Physics; 12/28/2022, Vol. 132 Issue 24, p1-13, 13p
مصطلحات موضوعية: THERMAL stability, FIELD emission, ELECTRON sources, ALGORITHMS, BREAKDOWN voltage, EXPERIMENTAL design, PROOF of concept, TRANSISTORS