-
1تقرير
المؤلفون: Pabian, Mateusz, Rzepka, Dominik, Pawlak, Mirosław
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Neural and Evolutionary Computing, Computer Science - Machine Learning
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2407.08746Test
-
2تقرير
المؤلفون: Thao, Nguyen T., Rzepka, Dominik, Miskowicz, Marek
مصطلحات موضوعية: Electrical Engineering and Systems Science - Signal Processing
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2403.01672Test
-
3تقرير
المؤلفون: Pawlak, Mirosław, Pabian, Mateusz, Rzepka, Dominik
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Information Theory, Computer Science - Machine Learning, Quantitative Biology - Neurons and Cognition
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2308.04796Test
-
4
-
5تقرير
المؤلفون: Pabian, Mateusz, Rzepka, Dominik, Pawlak, Mirosław
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Neural and Evolutionary Computing, Computer Science - Machine Learning
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2203.13207Test
-
6تقرير
-
7تقرير
المؤلفون: Thao, Nguyen T., Rzepka, Dominik
مصطلحات موضوعية: Electrical Engineering and Systems Science - Signal Processing
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/1911.12945Test
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Bartyzel, Grzegorz, Półchłopek, Wojciech, Rzepka, Dominik
المساهمون: Narodowe Centrum Badań i Rozwoju
المصدر: Journal of Intelligent & Robotic Systems ; volume 109, issue 3 ; ISSN 0921-0296 1573-0409
مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering, Artificial Intelligence, Industrial and Manufacturing Engineering, Mechanical Engineering, Control and Systems Engineering, Software
-
9مؤتمر
المؤلفون: Pawlak, Mirosław, Rzepka, Dominik, Miśkowicz, Marek
المصدر: 2023 International Conference on Sampling Theory and Applications (SampTA)
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/sampta59647.2023.10301200Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10301194/10301195/10301200.pdf?arnumber=10301200Test -
10مؤتمر
المؤلفون: Thao, Nguyen T., Rzepka, Dominik, Miśkowicz, Marek
المصدر: 2023 International Conference on Sampling Theory and Applications (SampTA)
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/sampta59647.2023.10301380Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/10301194/10301195/10301380.pdf?arnumber=10301380Test