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1رسالة جامعية
المؤلفون: Alvaro Gomez, Laura
المساهمون: SPINtronique et TEchnologie des Composants (SPINTEC), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche Interdisciplinaire de Grenoble (IRIG), Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Fondamentale (CEA) (DRF (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Grenoble Alpes (UGA), Universidad Complutense de Madrid = Complutense University of Madrid Madrid (UCM), Université Grenoble Alpes 2020-., Université Complutense de Madrid (1836-.), Olivier Fruchart, Lucas Perez Garcia
المصدر: https://theses.hal.science/tel-04317033Test ; Physics [physics]. Université Grenoble Alpes [2020-.]; Université Complutense de Madrid (1836-.), 2023. English. ⟨NNT : 2023GRALY035⟩.
مصطلحات موضوعية: Nanowire, Magnetization dynamics, Magnetic microscopy, Spintronic, Magnetic domain wall, Nanomagnetism, Spintronique, Nanomagnétisme, Paroi magnétique, Microscopie magnétique, Nanofil, Dynamique d'aimantation, [PHYS.PHYS]Physics [physics]/Physics [physics]
العلاقة: NNT: 2023GRALY035; tel-04317033; https://theses.hal.science/tel-04317033Test; https://theses.hal.science/tel-04317033/documentTest; https://theses.hal.science/tel-04317033/file/ALVARO_GOMEZ_2023_archivage.pdfTest
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2رسالة جامعية
المؤلفون: Alvaro Gomez, Laura
المساهمون: Université Grenoble Alpes, Université Complutense de Madrid (1836-.), Fruchart, Olivier, Perez Garcia, Lucas
مصطلحات موضوعية: Spintronique, Nanomagnétisme, Paroi magnétique, Microscopie magnétique, Nanofil, Dynamique d'aimantation, Nanowire, Magnetization dynamics, Magnetic microscopy, Spintronic, Magnetic domain wall, Nanomagnetism
الوقت: 530
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3رسالة جامعية
المؤلفون: Hadadeh, Fawaz
مرشدي الرسالة: Université Paris-Saclay (ComUE), Fermon, Claude
مصطلحات موضوعية: Imagerie magnétique, Capteur magnétoresisfs géant (GMR), Microscopie magnétique à balayage, Détection des trois composantes des champs, Contrôle non-destructif, Magnetix imaging, Spin valve Giant magnetoresistive sensor (GMR), Scanning Magnetoresistance microscopy, 3D magnetic field, Non-destructive testing
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المؤلفون: Hadadeh, Fawaz
المساهمون: Service de physique de l'état condensé (SPEC - UMR3680), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Département Imagerie et Simulation pour le Contrôle (DISC), Laboratoire d'Intégration des Systèmes et des Technologies (LIST (CEA)), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay, Université Paris Saclay (COmUE), Claude Fermon, Laboratoire d'Intégration des Systèmes et des Technologies (LIST), Barbier, Luc
المصدر: Instrumentation and Detectors [physics.ins-det]. Université Paris Saclay (COmUE), 2018. English. ⟨NNT : 2018SACLS421⟩
مصطلحات موضوعية: Imagerie magnétique, [SPI.ELEC] Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, Microscopie magnétique à balayage, Non-destructive testing, Détection des trois composantes des champs, Spin valve Giant magnetoresistive sensor (GMR), 3D magnetic field, Capteur magnétoresisfs géant (GMR), Contrôle non-destructif, [SPI.TRON] Engineering Sciences [physics]/Electronics, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics, [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, Magnetix imaging, [PHYS.PHYS.PHYS-INS-DET] Physics [physics]/Physics [physics]/Instrumentation and Detectors [physics.ins-det], Scanning Magnetoresistance microscopy, [PHYS.PHYS.PHYS-INS-DET]Physics [physics]/Physics [physics]/Instrumentation and Detectors [physics.ins-det], [SPI.SIGNAL]Engineering Sciences [physics]/Signal and Image processing, [SPI.SIGNAL] Engineering Sciences [physics]/Signal and Image processing
وصف الملف: application/pdf
الوصول الحر: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::fa8aca66335d49cebc349fbf2555e68fTest
https://theses.hal.science/tel-02073586Test -
5رسالة جامعية
المؤلفون: Hadadeh, Fawaz
المساهمون: Service de physique de l'état condensé (SPEC - UMR3680), Institut Rayonnement Matière de Saclay (DRF) (IRAMIS), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Département Imagerie et Simulation pour le Contrôle (CEA, LIST) (DISC (CEA, LIST)), Laboratoire d'Intégration des Systèmes et des Technologies (LIST (CEA)), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Paris-Saclay, Université Paris Saclay (COmUE), Claude Fermon
المصدر: https://theses.hal.science/tel-02073586Test ; Instrumentation and Detectors [physics.ins-det]. Université Paris Saclay (COmUE), 2018. English. ⟨NNT : 2018SACLS421⟩.
مصطلحات موضوعية: Magnetix imaging, Spin valve Giant magnetoresistive sensor (GMR), Scanning Magnetoresistance microscopy, 3D magnetic field, Non-destructive testing, Imagerie magnétique, Capteur magnétoresisfs géant (GMR), Microscopie magnétique à balayage, Détection des trois composantes des champs, Contrôle non-destructif, [PHYS.PHYS.PHYS-INS-DET]Physics [physics]/Physics [physics]/Instrumentation and Detectors [physics.ins-det], [SPI.SIGNAL]Engineering Sciences [physics]/Signal and Image processing, [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
العلاقة: NNT: 2018SACLS421; tel-02073586; https://theses.hal.science/tel-02073586Test; https://theses.hal.science/tel-02073586v2/documentTest; https://theses.hal.science/tel-02073586v2/file/74226_HADADEH_2018_archivage_Public.pdfTest
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6رسالة جامعية
المؤلفون: Courjault, Nicolas
مرشدي الرسالة: Toulouse 3, Lebey, Thierry, Bley, Vincent
مصطلحات موضوعية: Structure électroniques 3D, Analyse de défaillance, Microscopie magnétique, Thermographie synchrone, Tomographie à rayons X, Réflectomètre temporelle, 3D Electronic Structure, Failure analysis, Magnetic microscopy, Lock-in Thermography, X-rays Computed Tomography, Domain Reflectometry
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المؤلفون: Courjault, Nicolas
المساهمون: LAboratoire PLasma et Conversion d'Energie (LAPLACE), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées, Université Paul Sabatier - Toulouse III, Thierry Lebey, Vincent Bley, Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Université Fédérale Toulouse Midi-Pyrénées-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP)
المصدر: Electromagnétisme. Université Paul Sabatier-Toulouse III, 2016. Français. ⟨NNT : 2016TOU30313⟩
مصطلحات موضوعية: Tomographie à rayons X, Microscopie magnétique, Failure analysis, [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism, Lock-in Thermography, Magnetic microscopy, Analyse de défaillance, Structure électroniques 3D, Thermographie synchrone, X-rays Computed Tomography, Réflectomètre temporelle, Domain Reflectometry, 3D Electronic Structure
الوصول الحر: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::3d6eb83cf910ec2442da6ebb09eeb6f8Test
https://tel.archives-ouvertes.fr/tel-01635356/documentTest -
8رسالة جامعية
المؤلفون: Courjault, Nicolas
المساهمون: LAboratoire PLasma et Conversion d'Energie (LAPLACE), Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT), Université Paul Sabatier - Toulouse III, Thierry Lebey, Vincent Bley
المصدر: https://theses.hal.science/tel-01635356Test ; Electromagnétisme. Université Paul Sabatier - Toulouse III, 2016. Français. ⟨NNT : 2016TOU30313⟩.
مصطلحات موضوعية: 3D Electronic Structure, Failure analysis, Magnetic microscopy, Lock-in Thermography, X-rays Computed Tomography, Domain Reflectometry, Structure électroniques 3D, Analyse de défaillance, Microscopie magnétique, Thermographie synchrone, Tomographie à rayons X, Réflectomètre temporelle, [SPI.ELEC]Engineering Sciences [physics]/Electromagnetism
العلاقة: NNT: 2016TOU30313; tel-01635356; https://theses.hal.science/tel-01635356Test; https://theses.hal.science/tel-01635356/documentTest; https://theses.hal.science/tel-01635356/file/2016TOU30313b.pdfTest
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9رسالة جامعية
المؤلفون: Courjault, Nicolas
المساهمون: Toulouse 3, Lebey, Thierry, Bley, Vincent
مصطلحات موضوعية: Structure électroniques 3D, Analyse de défaillance, Microscopie magnétique, Thermographie synchrone, Tomographie à rayons X, Réflectomètre temporelle, 3D Electronic Structure, Failure analysis, Magnetic microscopy, Lock-in Thermography, X-rays Computed Tomography, Domain Reflectometry
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10رسالة جامعيةDevelopment of magnetic microscopy techniques for failure localization on three-dimensional circuits
المؤلفون: Infante, Fulvio
مرشدي الرسالة: Bordeaux 1, Lewis, Dean, Perdu, Philippe
مصطلحات موضوعية: Microscopie Magnétique, Analyse de Défaillance, Localisation des Défauts, Composants tridimensionnels, Squid, Micro-électronique, Magnetic Microscopy, Failure Analysis, Defect Localization, Three-dimensional Components, Microelectronics