-
1تقرير
المؤلفون: Nie, Qiang, Fu, Weifu, Lin, Yuhuan, Li, Jialin, Zhou, Yifeng, Liu, Yong, Zhu, Lei, Wang, Chengjie
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Machine Learning, Computer Science - Computer Vision and Pattern Recognition
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2406.03065Test
-
2تقرير
المؤلفون: Li, Pengzhi, Nie, Qiang, Chen, Ying, Jiang, Xi, Wu, Kai, Lin, Yuhuan, Liu, Yong, Peng, Jinlong, Wang, Chengjie, Zheng, Feng
المصدر: ECCV 2024
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Computer Vision and Pattern Recognition
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2403.12658Test
-
3تقرير
المؤلفون: Li, Jialin, Nie, Qiang, Fu, Weifu, Lin, Yuhuan, Tao, Guangpin, Liu, Yong, Wang, Chengjie
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Computer Vision and Pattern Recognition
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2403.04303Test
-
4تقرير
-
5تقرير
المؤلفون: Fu, Weifu, Nie, Qiang, Li, Jialin, Lin, Yuhuan, Wu, Kai, Li, Jian, Wang, Yabiao, Liu, Yong, Wang, Chengjie
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Computer Vision and Pattern Recognition
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2308.15855Test
-
6تقرير
-
7تقرير
المؤلفون: Lou, Chao, Han, Wenjuan, Lin, Yuhuan, Zheng, Zilong
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Computer Vision and Pattern Recognition, Computer Science - Computation and Language
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2203.14260Test
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Su, Hao, Cai, Yiyuan, Zhou, Shenghua, Hu, Guangchong, He, Yu, Xie, Yunfeng, Lin, Yuhuan, Li, Chunhui, Zhao, Tianqi, Lan, Jun, Wang, Wenhui, Li, Wenxin, Zhou, Feichi, Liu, Xiaoguang, Lin, Longyang, Li, Yida, Yu, Hongyu, Chen, Kai
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society ; page 1-1 ; ISSN 2168-6734
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/jeds.2024.3359664Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/6245494/6423298/10416243.pdf?arnumber=10416243Test -
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Fu, Weifu, Nie, Qiang, Li, Jialin, Lin, Yuhuan, Wu, Kai, Liu, Yong, Wang, Chengjie
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Computer Vision and Pattern Recognition
العلاقة: http://arxiv.org/abs/2308.15855Test
الإتاحة: http://arxiv.org/abs/2308.15855Test
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Su, Hao, Cai, Yiyuan, Lin, Yuhuan, Xie, Yunfeng, Mai, Yongfeng, Zhou, Shenghua, Hu, Guangchong, He, Yu, Zhou, Feichi, Liu, Xiaoguang, Lin, Longyang, Li, Yida, Yu, Hongyu, Chen, Kai
المصدر: International Journal of Numerical Modelling; May2024, Vol. 37 Issue 3, p1-12, 12p
مصطلحات موضوعية: THRESHOLD voltage, METAL oxide semiconductor field-effect transistors, LOW temperatures, COMPLEMENTARY metal oxide semiconductors