المساهمون: Brenner, Gunter [Deutsches Elektronen-Synchrotron (DESY), Hamburg (Germany)]

المصدر: Journal of Synchrotron Radiation (Online); 23; 1

وصف الملف: Medium: ED; Size: p. 123-131

الوصول الحر: http://www.osti.gov/scitech/servlets/purl/1249509Test

المساهمون: Yashchuk, Valeriy

المصدر: Conference: SPIE Optics and Photonics, San Diego, CA, 11-16 August 2012; Other Information: Journal Publication Date: 16 August 2012

وصف الملف: Medium: ED; Size: 8

الوصول الحر: http://www.osti.gov/scitech/servlets/purl/1173286Test

المساهمون: Warwick, T

المصدر: Conference: EuroFEL Workshop on Photon Beamlines& Diagnostics, Hamburg, Germany, 28-30 June 2010

وصف الملف: Medium: ED; Size: 1

الوصول الحر: http://www.osti.gov/scitech/servlets/purl/984308Test

المؤلفون: Artemiev, Nikolay

مصطلحات موضوعية: Engineering, Instrumentation -- other, x-ray optics, Kirkpatrick-Baez, bendable mirrors, characteristic function, regression analysis, synchrotron radiation, metrology of x-ray optics

وصف الملف: application/pdf

الوصول الحر: https://escholarship.org/uc/item/7pb7747sTest

المؤلفون: Kazuto Yamauchi, Kentaro Hata, Satoshi Matsuyama, 山内 和人, 松山 智至, 波多 健太郎

المصدر: Proceedings of JSPE Semestrial Meeting. 2021, :672

المؤلفون: Artemiev, Nikolay

مصطلحات موضوعية: Instrumentation -- other, x-ray optics, Kirkpatrick-Baez, bendable mirrors, characteristic function, regression analysis, long trace profiler, metrology of x-ray optics, Finite Element Analysis, FEA.

وصف الملف: application/pdf

الوصول الحر: https://escholarship.org/uc/item/8vr571rqTest

المؤلفون: Merthe, Daniel

مصطلحات موضوعية: Engineering, Instrumentation -- other, bendable mirrors, x-rays, x-ray optics, synchrotron radiation, synchrotron beamline, Kirkpatrick-Baez, metrology of x-ray optics

وصف الملف: application/pdf

الوصول الحر: https://escholarship.org/uc/item/6zf6f8mdTest

المؤلفون: Civita, Daniele La

مصطلحات موضوعية: Instrumentation -- other, x-ray optics, Kirkpatrick-Baez, bendable mirrors, characteristic function, regression analysis, synchrotron radiation, metrology of x-ray optics, Finite Element Analysis, FEA.

وصف الملف: application/pdf

الوصول الحر: https://escholarship.org/uc/item/72w1s3kcTest

المؤلفون: McKinney, Wayne

مصطلحات موضوعية: Instrumentation -- other, bendable mirrors, x-rays, x-ray optics, synchrotron radiation, synchrotron beamline, Kirkpatrick-Baez

وصف الملف: application/pdf

الوصول الحر: https://escholarship.org/uc/item/67g187gvTest

المؤلفون: McKinney, Wayne, Goldberg, Kenneth, Howells, Malcolm, Merthe, Daniel J., Yuan, Sheng, Yashchuk, Valeriy

المصدر: SPIE Proceedings, vol OP322

مصطلحات موضوعية: bendable mirrors, x-rays, x-ray optics, synchrotron radiation, synchrotron beamline, Kirkpatrick-Baez

وصف الملف: application/pdf

الوصول الحر: https://escholarship.org/uc/item/4mc4s3hbTest