-
1تقرير
المؤلفون: Kim, Yewon, Le, Thanh-Long V., Kim, Donghwi, Lee, Mina, Lee, Sung-Ju
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Human-Computer Interaction
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2405.07475Test
-
2تقرير
المؤلفون: Lee, Mina, Gero, Katy Ilonka, Chung, John Joon Young, Shum, Simon Buckingham, Raheja, Vipul, Shen, Hua, Venugopalan, Subhashini, Wambsganss, Thiemo, Zhou, David, Alghamdi, Emad A., August, Tal, Bhat, Avinash, Choksi, Madiha Zahrah, Dutta, Senjuti, Guo, Jin L. C., Hoque, Md Naimul, Kim, Yewon, Knight, Simon, Neshaei, Seyed Parsa, Sergeyuk, Agnia, Shibani, Antonette, Shrivastava, Disha, Shroff, Lila, Stark, Jessi, Sterman, Sarah, Wang, Sitong, Bosselut, Antoine, Buschek, Daniel, Chang, Joseph Chee, Chen, Sherol, Kreminski, Max, Park, Joonsuk, Pea, Roy, Rho, Eugenia H., Shen, Shannon Zejiang, Siangliulue, Pao
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Human-Computer Interaction, Computer Science - Computation and Language
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2403.14117Test
-
3تقرير
-
4تقرير
-
5تقرير
-
6تقرير
-
7تقرير
المؤلفون: Oh, Changdae, Won, Heeji, So, Junhyuk, Kim, Taero, Kim, Yewon, Choi, Hosik, Song, Kyungwoo
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Machine Learning, Computer Science - Artificial Intelligence, Computer Science - Computers and Society
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2206.08743Test
-
8تقرير
المؤلفون: Kim, Sungjae, Kim, Yewon, Jun, Jewoo, Kim, Injung
مصطلحات موضوعية: Electrical Engineering and Systems Science - Audio and Speech Processing, Computer Science - Sound
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2203.00931Test
-
9تقرير
المؤلفون: Gong, Taesik, Kim, Yewon, Orzikulova, Adiba, Liu, Yunxin, Hwang, Sung Ju, Shin, Jinwoo, Lee, Sung-Ju
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Machine Learning
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2111.11053Test
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Lee, Hyun Cheol, Choi, Jung Youn, Seo, Hana, Kim, Hyun Ju, Kim, Yewon, Lee, Haneol
المصدر: Nuclear Engineering and Technology ; ISSN 1738-5733
مصطلحات موضوعية: Nuclear Energy and Engineering
الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.net.2024.02.054Test
https://api.elsevier.com/content/article/PII:S1738573324001153?httpAccept=text/xmlTest
https://api.elsevier.com/content/article/PII:S1738573324001153?httpAccept=text/plainTest