يعرض 1 - 10 نتائج من 299 نتيجة بحث عن '"Kaminski, N"', وقت الاستعلام: 0.73s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
  2. 2
    دورية أكاديمية
  3. 3

    المصدر: Nature Medicine. 26(5):681-687

    وصف الملف: print

  4. 4
    دورية أكاديمية
  5. 5
    دورية أكاديمية
  6. 6
    دورية أكاديمية
  7. 7
    دورية أكاديمية
  8. 8
    دورية أكاديمية
  9. 9
    دورية أكاديمية

    المساهمون: Department of Electrical Engineering and Automation, ABB Oy Drives, University of Bremen, IWO Ede NL, Department of Bioproducts and Biosystems, Aalto-yliopisto, Aalto University

    مصطلحات موضوعية: Aluminium corrosion, ECM, EoL, FIB, HV-HTRB, IGBT, LiT, MIP, PoF, Pourbaix diagram

    وصف الملف: application/pdf

    العلاقة: info:eu-repo/grantAgreement/EC/H2020/826417/EU//Power2Power; Microelectronics Reliability; Volume 137; Leppänen , J , Ingman , J , Peters , J H , Hanf , M , Ross , R , Koopmans , G , Jormanainen , J , Forsström , A , Ross , G , Kaminski , N & Vuorinen , V 2022 , ' Aluminium corrosion in power semiconductor devices ' , Microelectronics Reliability , vol. 137 , 114766 . https://doi.org/10.1016/j.microrel.2022.114766Test; PURE UUID: bed93e46-6f3d-4fdc-8f70-0d7f2e8e472a; PURE ITEMURL: https://research.aalto.fi/en/publications/bed93e46-6f3d-4fdc-8f70-0d7f2e8e472aTest; PURE LINK: http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=85137613513&partnerID=8YFLogxKTest; PURE FILEURL: https://research.aalto.fi/files/88326610/1_s2.0_S0026271422002906_main.pdfTest; https://aaltodoc.aalto.fi/handle/123456789/116882Test; URN:NBN:fi:aalto-202209215680

  10. 10
    دورية أكاديمية