-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Salazar, A., Sánchez-Lavega, A., Terrón, J. M., Gateshki, M.
المصدر: Boletín de la Sociedad Española de Cerámica y Vidrio, Vol 39, Iss 4, Pp 584-588 (2000)
مصطلحات موضوعية: Photothermal techniques, thermal waves, thermal diffity, nondestructive evaluation, Técnicas fototérmicas, ondas térmicas, difusividad térmica, ensayos no destructivos, Clay industries. Ceramics. Glass, TP785-869
وصف الملف: electronic resource
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Sommariva, M., Dadivanyan, N., Gateshki, M., Rayner, M., Lukashuk, Liliana, Rupprechter, Günther, Föttinger, Karin
المساهمون: PANalytical BV, Almelo, The Netherlands, #PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#
مصطلحات موضوعية: X-ray Diffraction, Catalysis, Iron oxide
العلاقة: Acta Physica Polonica A; I 2158-N28; W1243; https://resolver.obvsg.at/urn:nbn:at:at-ubtuw:3-5769Test; http://hdl.handle.net/20.500.12708/626Test; AC15404616; urn:nbn:at:at-ubtuw:3-5769
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Iturbe-Zabalo, E., Fabelo, Oscar, Gateshki, M., Igartua, J. M.
العلاقة: #PLACEHOLDER_PARENT_METADATA_VALUE#; info:eu-repo/grantAgreement/EC/FP7/226507; http://dx.doi.org/10.1107/S0108768112044217Test; e-issn: 1600-5740; Acta Crystallographica Section B: Structural Science 68(6): 590-601 (2012); http://hdl.handle.net/10261/73854Test
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Pradhan, S. K., Gateshki, M., Petkov, V., Niederberger, M., Ren, Y.
المصدر: Powder Diffraction, 22 (2)
وصف الملف: application/application/pdf
الإتاحة: https://doi.org/20.500.11850/422958Test
https://doi.org/10.3929/ethz-b-000422958Test
https://doi.org/10.1154/1.2754467Test
https://hdl.handle.net/20.500.11850/422958Test -
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Confalonieri, G, Dapiaggi, M, Sommariva, M, Gateshki, M, Fitch, AN, Bernasconi, A
المساهمون: Confalonieri, G, Dapiaggi, M, Sommariva, M, Gateshki, M, Fitch, AN, Bernasconi, A
مصطلحات موضوعية: PDF, total scattering, nanomaterial, synchrotron, laboratory diffractometer
العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:000370164300012; volume:30; issue:S1; firstpage:S65; lastpage:S69; numberofpages:5; journal:POWDER DIFFRACTION; https://hdl.handle.net/2318/1902359Test; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-84929835493
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Nikolaev, K. V., Yakunin, S. N., Makhotkin, I. A., Rie, J. de la, Medvedev, R. V., Rogachev, A. V., Trunckin, I. N., Vasiliev, A. L., Hendrikx, C. P., Gateshki, M., Kruijs, R. W. E. van de, Bijkerk, F.
المصدر: Acta Crystallographica. Section A, Foundations & Advances; Mar2019, Vol. 75 Issue 2, p342-351, 10p
مصطلحات موضوعية: SURFACE coatings, SCATTERING (Physics), THIN films
-
7
المؤلفون: Grenzer, J., Kharchenko, A., Gateshki, M., Holz, T.
المصدر: "XTOP" 2014, 15.-19.09.2014, Grenoble & Villard de Lans, France
الوصول الحر: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4577::4d8f173cb465172524d49b75a8d1b52eTest
https://www.hzdr.de/publications/Publ-21362-1Test -
8
المؤلفون: Grenzer, J., Kharchenko, A., Gateshki, M., Holz, T.
المصدر: Workshop on X-ray Scattering Methods for Thin Film Characterization, 25.-26.09.2014, Prague, Czech Republic
الوصول الحر: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______4577::3881ec5a8fe188aed9a84e05901224e3Test
https://www.hzdr.de/publications/Publ-21366-1Test -
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Habgood, M., Lancaster, R. W., Gateshki, M., Kenwright, A. M.
المصدر: Crystal growth & design, 2013, Vol.13(4), pp.1771-1779 [Peer Reviewed Journal]
وصف الملف: application/pdf
العلاقة: dro:13850; http://dro.dur.ac.uk/13850Test/; http://dx.doi.org/10.1021/cg400109jTest; http://dro.dur.ac.uk/13850/1/13850.pdfTest
الإتاحة: https://doi.org/10.1021/cg400109jTest
http://dro.dur.ac.uk/13850Test/
http://dro.dur.ac.uk/13850/1/13850.pdfTest -
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Velinov, T, Ahtapodov, L, Nelson, A, Gateshki, M, Bivolarska, M
مصطلحات موضوعية: Evaporation, Optical Properties, Thin Films, Gold, Surface Properties, Plasmons
العلاقة: Velinov, T., Ahtapodov, L., Nelson, A., Gateshki, M., & Bivolarska, M. (2011). Influence of the surface roughness on the properties of Au films measured by surface plasmon resonance and x-ray reflectometry. Thin Solid Films, 519(7), 2093-2097. doi.10.1016/j.tsf.2010.10.059; http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2010.10.059Test; http://apo.ansto.gov.au/dspace/handle/10238/3157Test
الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2010.10.059Test
http://apo.ansto.gov.au/dspace/handle/10238/3157Test