يعرض 1 - 10 نتائج من 85 نتيجة بحث عن '"Gateshki, M."', وقت الاستعلام: 1.06s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
  2. 2
    دورية أكاديمية
  3. 3
    دورية أكاديمية
  4. 4
    دورية أكاديمية
  5. 5
    دورية أكاديمية

    المساهمون: Confalonieri, G, Dapiaggi, M, Sommariva, M, Gateshki, M, Fitch, AN, Bernasconi, A

    العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:000370164300012; volume:30; issue:S1; firstpage:S65; lastpage:S69; numberofpages:5; journal:POWDER DIFFRACTION; https://hdl.handle.net/2318/1902359Test; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-84929835493

  6. 6
    دورية أكاديمية
  7. 7
  8. 8

    المصدر: Workshop on X-ray Scattering Methods for Thin Film Characterization, 25.-26.09.2014, Prague, Czech Republic

  9. 9
    دورية أكاديمية
  10. 10
    دورية أكاديمية

    العلاقة: Velinov, T., Ahtapodov, L., Nelson, A., Gateshki, M., & Bivolarska, M. (2011). Influence of the surface roughness on the properties of Au films measured by surface plasmon resonance and x-ray reflectometry. Thin Solid Films, 519(7), 2093-2097. doi.10.1016/j.tsf.2010.10.059; http://dx.doi.org/10.1016/j.tsf.2010.10.059Test; http://apo.ansto.gov.au/dspace/handle/10238/3157Test