يعرض 1 - 10 نتائج من 175 نتيجة بحث عن '"Furano, G"', وقت الاستعلام: 1.14s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
  2. 2
    مؤتمر
  3. 3
    تقرير
  4. 4
    تقرير
  5. 5
    تقرير
  6. 6
    مؤتمر

    المساهمون: Annink, Eb, Rauwerda, G, Hakkennes, E, Menicucci, A, Mascio, Sd, Furano, G, Ottavi, M

    مصطلحات موضوعية: Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA

    العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/isbn/978-1-6654-5939-6; ispartofbook:2022 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT); IEEE DFTS 2022; volume:2022-October; firstpage:1; lastpage:6; numberofpages:6; https://hdl.handle.net/2108/313224Test; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-85143754200

  7. 7
    مؤتمر

    المساهمون: Cassano, L, Mascio, Sd, Palumbo, A, Menicucci, A, Furano, G, Bianchi, G, Ottavi, M

    مصطلحات موضوعية: Settore ING-INF/01 - ELETTRONICA

    العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/isbn/978-1-6654-5939-6; ispartofbook:2022 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT); IEEE DFTS 2022; volume:2022-October; firstpage:1; lastpage:6; numberofpages:6; https://hdl.handle.net/2108/313230Test; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-85143770279

  8. 8
    دورية أكاديمية
  9. 9
    مؤتمر

    المساهمون: Cappellone, D, Di Mascio, S, Furano, G, Menicucci, A, Ottavi, M

    العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/isbn/978-1-7281-9457-8; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:000719567900006; ispartofbook:2020 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT); 33rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems, DFT 2020; http://hdl.handle.net/2108/290987Test; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-85097656469

  10. 10
    دورية أكاديمية