يعرض 1 - 10 نتائج من 1,148 نتيجة بحث عن '"ELECTRONIC appliance testing"', وقت الاستعلام: 2.35s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Parallel–Series Multiobjective Genetic Algorithm for Optimal Tests Selection With Multiple Constraints.

    المؤلفون: Yang, Chenglin

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement. Aug2018, Vol. 67 Issue 8, p1859-1876. 18p.

    مصطلحات موضوعية: *INTEGRATED circuits, GENETIC algorithms, ELECTRONIC appliance testing, FUZZY graphs, PARTICLE swarm optimization


    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Electromechanical-Metallurgical Probe Contact Wear Effects of PdCuAg Alloy in Cycling Contact With SAC 305 Solder: Semiconductor Test and Ball Grid Array Packaging.

    المؤلفون: Martinez Sanchez, R.1, Garay, C. G.1, Islam, R.2, Aguilar Santillan, J.3

    المصدر: IEEE Transactions on Components, Packaging & Manufacturing Technology. May2018, Vol. 8 Issue 5, p896-903. 8p.

    مصطلحات موضوعية: *SURFACE mount technology, ELECTRONIC appliance testing, ELECTRONIC probes, ELECTRONIC equipment, ELECTRONICS packaging, FLIP chip technology, MICROPROCESSORS


    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Atomistic insights into mechanical and thermal properties of stanene with defects.

    المؤلفون: Das, Sourav1, Mojumder, Satyajit1, Rakib, Tawfiqur1, Islam, Md Mahbubul1,2 abdulmotalab@me.buet.ac.bdislam3@purdue.edu, Motalab, Mohammad1 mtipuz@yahoo.com

    المصدر: Physica B. Jan2019, Vol. 553, p127-136. 10p.

    مصطلحات موضوعية: *THERMAL properties, *ELECTRONIC appliance testing, *ATOMIC force microscopes, *DEFORMATIONS (Mechanics), *NANOELECTRONICS


    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    A Digital Testing Strategy for Characterizing an Analog Circuit Block.

    المؤلفون: Ting, Hsin-Wen1

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation & Measurement. Jun2016, Vol. 65 Issue 6, p1374-1384. 11p.

    مصطلحات موضوعية: ELECTRONIC circuit testers, ELECTRONIC appliance testing, OPERATIONAL amplifiers, ELECTRONIC systems, LINE drivers (Integrated circuits)


    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Flexibility Testing Strategies and Apparatus for Flexible Electronics.

    المؤلفون: Li, Haoyu U.1, Jackson, Thomas N.2

    المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices. May2016, Vol. 63 Issue 5, p1934-1939. 6p.

    مصطلحات موضوعية: FLEXIBLE electronics, ELECTRONIC appliance testing, ANISOTROPY, MECHANICAL engineering, INTEGRATED circuit interconnections


    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية
    Is Component Testing Using ROSE Practical?

    المؤلفون: Russeau, Joe1, Northrup, Mark2

    المصدر: SMT007 Magazine. Aug2018, Vol. 33 Issue 8, p62-65. 3p. 2 Color Photographs.

    مصطلحات موضوعية: *PROCESS control systems, *ELECTRONIC industries, ELECTRONIC appliance testing, ELECTRONIC equipment, SOLVENT extraction, ION exchange chromatography, CLEANING


    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Two feeding methods based on substrate integrated waveguide for microstrip patch antennas.

    المؤلفون: Mikulasek, Tomas1 mikulasekt@feec.vutbr.cz, Lacik, Jaroslav1

    المصدر: IET Microwaves, Antennas & Propagation (Wiley-Blackwell). 2015, Vol. 9 Issue 5, p423-430. 8p.

    مصطلحات موضوعية: ELECTRONIC probes, ELECTRONIC appliance testing, MICROPROBE analysis, WAVEGUIDE theory, WAVEGUIDE transitions, ANTENNA radiation patterns, MICROSTRIP antennas

    النص الكامل

    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    Finite element and analytical solutions for van der Pauw and four-point probe correction factors when multiple non-ideal measurement conditions coexist.

    المؤلفون: Reveil, Mardochee1, Sorg, Victoria C.1, Cheng, Emily R.1, Ezzyat, Taha1, Clancy, Paulette1, Thompson, Michael O.2 mot1@cornell.edu

    المصدر: Review of Scientific Instruments. 2017, Vol. 88 Issue 9, p1-12. 12p. 1 Diagram, 2 Charts, 7 Graphs.

    مصطلحات موضوعية: *ELECTRONIC probes, *ELECTRONIC appliance testing, *MICROPROBE analysis, *THIN films, *SOLID state electronics


    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية
    Probing material conductivity in two-terminal devices by resistance difference.

    المؤلفون: Yang Lu1, I-Wei Chen1 iweichen@seas.upenn.edu

    المصدر: Applied Physics Letters. 8/21/2017, Vol. 111 Issue 8, p083501-1-083501-4. 4p. 4 Graphs.

    مصطلحات موضوعية: *ELECTRIC conductivity, *ELECTRONIC appliance testing, *ELECTRODES, *SELF-similar processes, *ELECTRIC properties


    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية
    La impugnación de la prueba electrónica.

    العنوان البديل: The challenge of the test electronic.

    المؤلفون: Abel Lluch, Xavier1

    المصدر: Justicia. 2019, Issue 1, p217-266. 50p.

    مصطلحات موضوعية: *ELECTRONIC evidence, *ELECTRONIC appliance testing, *CERTAINTY, *INTEGRITY, *MOBILE apps, *COURTS, *EVALUATION, *DOCUMENT classification (Electronic documents)


    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS — أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني — حفظ البحث