يعرض 1 - 10 نتائج من 75 نتيجة بحث عن '"Cheng, KT"', وقت الاستعلام: 1.38s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
  2. 2
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Huang, TC, Huang, JL, Cheng, KT

    المصدر: Foundations and Trends in Electronic Design Automation. 9(2)

    وصف الملف: application/pdf

  3. 3
    دورية أكاديمية
  4. 4
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Cheng, KT, Chang, K

    وصف الملف: application/pdf

    العلاقة: http://usir.salford.ac.uk/id/eprint/46187/1/_USIR_AAM.pdfTest; Cheng, KT and Chang, K orcid:0000-0002-5689-7780 2019, 'Enhancing employee engagement for small and medium enterprises in Taiwan' , Information Resources Management Journal, 32 (1) , pp. 28-47.

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المساهمون: Fiorio Pla A, Ong HL, Cheng KT, Brossa A, Bussolati B, Lockwich T, Paria B, Munaron L, Ambudkar IS.

    العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/pmid/21685934; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:000299307400006; volume:31; issue:2; firstpage:200; lastpage:212; numberofpages:13; journal:ONCOGENE; http://hdl.handle.net/2318/88418Test; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-84855800173; http://www.nature.com/onc/journal/v31/n2/pdf/onc2011231a.pdfTest

  6. 6
    دورية أكاديمية
  7. 7
    دورية أكاديمية
  8. 8
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Huang SY, Cheng KT, Chen KC

    المساهمون: 黃錫瑜

    مصطلحات موضوعية: ATPG, equivalence checking, machine equivalence

    الوقت: 45

    العلاقة: ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS, Association for Computing Machinery, Volume 6, Issue 2, APR 2001, Pages 244-275; http://nthur.lib.nthu.edu.tw/dspace/handle/987654321/71382Test

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: JOU, JY, CHENG, KT

    المساهمون: 電子工程學系及電子研究所, Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics

    العلاقة: http://dx.doi.org/10.1109/54.491238Test; http://hdl.handle.net/11536/1644Test; IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS; WOS:A1995TF01400008

  10. 10
    تقرير

    المؤلفون: Hong, HC, Wu, CW, Cheng, KT

    المساهمون: 電控工程研究所, Institute of Electrical and Control Engineering

    العلاقة: 0-7695-2235-1; http://hdl.handle.net/11536/18182Test; 13TH ASIAN TEST SYMPOSIUM, PROCEEDINGS