-
1تقرير
-
2
-
3تقرير
المؤلفون: Ai, Yun, Mathur, Aashish, Kong, Long, Cheffena, Michael
مصطلحات موضوعية: Computer Science - Information Theory, Electrical Engineering and Systems Science - Systems and Control
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2103.07163Test
-
4تقرير
المؤلفون: Ai, Yun, de Figueiredo, Felipe A. P., Kong, Long, Cheffena, Michael, Chatzinotas, Symeon, Ottersten, Björn
مصطلحات موضوعية: Electrical Engineering and Systems Science - Signal Processing, Electrical Engineering and Systems Science - Systems and Control
الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2011.14899Test
-
5تقرير
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Dang, Yu, Cheffena, Michael
المساهمون: Norges Teknisk-Naturvitenskapelige Universitet
المصدر: Microwave and Optical Technology Letters ; volume 65, issue 10, page 2821-2827 ; ISSN 0895-2477 1098-2760
-
7دورية أكاديمية
المساهمون: Norges Forskningsråd
المصدر: IEEE Access ; volume 11, page 64468-64475 ; ISSN 2169-3536
مصطلحات موضوعية: General Engineering, General Materials Science, General Computer Science, Electrical and Electronic Engineering
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/access.2023.3289204Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/6287639/10005208/10162186.pdf?arnumber=10162186Test -
8دورية أكاديمية
المساهمون: Norwegian University of Science and Technology
المصدر: IEEE Access ; volume 11, page 47836-47847 ; ISSN 2169-3536
مصطلحات موضوعية: General Engineering, General Materials Science, General Computer Science, Electrical and Electronic Engineering
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/access.2023.3269659Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/6287639/10005208/10107371.pdf?arnumber=10107371Test -
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Hasan, Mohammad Mahmudul, Cheffena, Michael
المساهمون: Norges Forskningsråd
المصدر: IEEE Access ; volume 11, page 74101-74111 ; ISSN 2169-3536
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/access.2023.3296459Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/6287639/10005208/10185565.pdf?arnumber=10185565Test -
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Cowen, Todd, Cheffena, Michael
المساهمون: Norges Forskningsr??d
المصدر: ACS Sustainable Chemistry & Engineering ; volume 11, issue 29, page 10598-10604 ; ISSN 2168-0485 2168-0485