المؤلفون: Gabrielle, Guitton, Mangla, Anurag, Chalkiadaki, M.-A., Fadhuile, François, Taris, Thierry, Enz, Christian

المساهمون: Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1 (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)

المصدر: XIXèmes Journées Nationales Microondes ; https://hal.science/hal-01429908Test ; XIXèmes Journées Nationales Microondes, Jun 2015, Bordeaux, France

مصطلحات موضوعية: méthodologie de conception, oscillateurs LC, bruit de phase, BSIM6, coefficient d’inversion, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

جغرافية الموضوع: Bordeaux, France

العلاقة: hal-01429908; https://hal.science/hal-01429908Test

الإتاحة: https://hal.science/hal-01429908Test

المؤلفون: Gabrielle, Guitton, Mangla, Anurag, Chalkiadaki, M.-A., Fadhuile, François, Taris, Thierry, Enz, Christian

المساهمون: Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1 (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)

المصدر: Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique ; https://hal.science/hal-01429913Test ; Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique, May 2015, Bordeaux, France

مصطلحات موضوعية: méthodologie de conception, oscillateurs LC, bruit de phase, BSIM6, coefficient d’inversion, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

جغرافية الموضوع: Bordeaux, France

العلاقة: hal-01429913; https://hal.science/hal-01429913Test

الإتاحة: https://hal.science/hal-01429913Test

المؤلفون: Gabrielle, Guitton, Mangla, Anurag, Chalkiadaki, M.-A., Fadhuile, François, Taris, Thierry, Enz, Christian

المساهمون: Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1 (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne (EPFL)

المصدر: ISSN: 0098-9886.

مصطلحات موضوعية: design methodology, LC oscillators, phase noise, BSIM6, inversion coefficient, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics

العلاقة: hal-01429902; https://hal.science/hal-01429902Test

الإتاحة: https://hal.science/hal-01429902Test

المؤلفون: Mangla, A., Chalkiadaki, M.-A., Fadhuile, F., Taris, T., Deval, Y., Enz, C. C.

المساهمون: Conception De Circuits, Equipe

المصدر: Microelectronics Journal

مصطلحات موضوعية: RF integrated circuit design, Design methodology, Low power, [SPI.TRON] Engineering Sciences [physics]/Electronics, BSIM6

الوصول الحر: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::7b4f94f886fb85da2eb48d1b9cafdaadTest

المؤلفون: Guitton, G., Mangla, A., Chalkiadaki, M.-A., Fadhuile, F., Taris, T., Enz, C.

المصدر: http://infoscience.epfl.ch/record/209669Test.

العلاقة: ISI:000368999300007; http://infoscience.epfl.ch/record/209669Test

الإتاحة: https://doi.org/10.1002/cta.2082Test
http://infoscience.epfl.ch/record/209669Test

المؤلفون: Agarwal, H., Venugopalan, S., Chalkiadaki, M.-A., Paydavosi, N., Duarte, J. P., Agnihotri, S., Yadav, C., Kushwaha, P., Chauhan, Y. S., Enz, C. C., Niknejad, A., Hu, C.

المصدر: 2013 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)

الإتاحة: https://doi.org/10.1109/sispad.2013.6650572Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/6637582/6650550/06650572.pdf?arnumber=6650572Test

المؤلفون: Chalkiadaki, M., Mangla, A., Enz, C. C., Chauhan, Y. S., Karim, M. A., Venugopalan, S., Niknejad, A., Hu, C.

المصدر: 2012 Proceedings of the ESSCIRC (ESSCIRC)

الإتاحة: https://doi.org/10.1109/esscirc.2012.6341250Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/6331297/6341242/06341250.pdf?arnumber=6341250Test

المؤلفون: Chalkiadaki, M.-A, Mangla, A., Enz, C. C., Chauhan, Y. S., Karim, M. A., Venugopalan, S., Niknejad, A., Hu, C.

المصدر: 2012 Proceedings of the European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)

الإتاحة: https://doi.org/10.1109/essderc.2012.6343331Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/6331298/6343319/06343331.pdf?arnumber=6343331Test

المؤلفون: Agarwal, H., Venugopalan, S., Chalkiadaki, M.-A., Paydavosi, N., Duarte, J. P., Agnihotri, S., Yadav, C., Kushwaha, P., Chauhan, Y. S., Enz, C. C., Niknejad, A., Hu, C.

المصدر: http://infoscience.epfl.ch/record/197595Test.

العلاقة: http://infoscience.epfl.ch/record/197595Test

الإتاحة: https://doi.org/10.1109/SISPAD.2013.6650572Test
http://infoscience.epfl.ch/record/197595Test

المؤلفون: Chalkiadaki, M.-A., Enz, C. C.

المصدر: http://infoscience.epfl.ch/record/197596Test.

العلاقة: http://infoscience.epfl.ch/record/197596Test

الإتاحة: http://infoscience.epfl.ch/record/197596Test