المؤلفون: Babich, D., Tranchant, J., Adda, C., Corraze, B., Besland, M. -P., Warnicke, P., Bedau, D., Bertoncini, P., Mevellec, J. -Y., Humbert, B., Rupp, J., Hennen, T., Wouters, D., Llopis, R., Cario, L., Janod, E.

مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Strongly Correlated Electrons, Condensed Matter - Materials Science

الوصول الحر: http://arxiv.org/abs/2105.05093Test

المؤلفون: Villeneuve-Faure, C, Mitronika, Maria, Dan, A, P, Boudou, Laurent, Ravisy, William, Besland, M, P, Richard-Plouet, Mireille, Goullet, Antoine

المساهمون: Diélectriques Solides et Fiabilité (LAPLACE-DSF), LAboratoire PLasma et Conversion d'Energie (LAPLACE), Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT), Institut des Matériaux de Nantes Jean Rouxel (IMN), Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Nantes université - UFR des Sciences et des Techniques (Nantes univ - UFR ST), Nantes Université - pôle Sciences et technologie, Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université - pôle Sciences et technologie, Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université - Ecole Polytechnique de l'Université de Nantes (Nantes Univ - EPUN), Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université (Nantes Univ), French GDR SEEDS

المصدر: EISSN: 2632-959X ; Nano Express ; https://hal.science/hal-04549301Test ; Nano Express, 2024, 5 (1), pp.015010. ⟨10.1088/2632-959x/ad220d⟩

مصطلحات موضوعية: TiO2-SiO2 nanocomposite thin films, atomic force microscopy, low-pressure plasma processing, dielectric thin films, [CHIM.MATE]Chemical Sciences/Material chemistry, [PHYS]Physics [physics]

العلاقة: hal-04549301; https://hal.science/hal-04549301Test; https://hal.science/hal-04549301/documentTest; https://hal.science/hal-04549301/file/Villeneuve-Faure_2024_Nano_Express_5_015010.pdfTest

الإتاحة: https://doi.org/10.1088/2632-959x/ad220dTest
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المؤلفون: Zgheib, J., Berthelot, L., Tranchant, J., Ginot, N., Besland, M.-P., Caillard, A., Minea, T., Rhallabi, A., Jouan, P.-Y.

المساهمون: Institut des Matériaux de Nantes Jean Rouxel (IMN), Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Nantes université - UFR des Sciences et des Techniques (Nantes univ - UFR ST), Nantes Université - pôle Sciences et technologie, Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université - pôle Sciences et technologie, Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université - Ecole Polytechnique de l'Université de Nantes (Nantes Univ - EPUN), Nantes Université (Nantes Univ)-Nantes Université (Nantes Univ), Institut d'Électronique et des Technologies du numéRique (IETR), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Nantes Université - pôle Sciences et technologie, Groupe de recherches sur l'énergétique des milieux ionisés (GREMI), Université d'Orléans (UO)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Laboratoire de physique des gaz et des plasmas (LPGP), Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: ISSN: 0734-2101 ; Journal of Vacuum Science & Technology A ; https://hal.science/hal-04299303Test ; Journal of Vacuum Science & Technology A, 2023, 41 (6), pp.063003. ⟨10.1116/6.0002857⟩.

مصطلحات موضوعية: THIN-FILMS, LANGMUIR PROBE, DEPOSITION, HIPIMS, MODEL, TIME, MICROSTRUCTURE, SPECTROSCOPY, BOMBARDMENT, PRESSURE, [SPI.MAT]Engineering Sciences [physics]/Materials, [SPI.PLASMA]Engineering Sciences [physics]/Plasmas

العلاقة: hal-04299303; https://hal.science/hal-04299303Test; https://hal.science/hal-04299303/documentTest; https://hal.science/hal-04299303/file/e-Hipims_manuscript_JVST_JZ_final.pdfTest

الإتاحة: https://doi.org/10.1116/6.0002857Test
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المؤلفون: Mitronika, Maria, Villeneuve-Faure, C, Massol, F, Boudou, Laurent, Ravisy, W, Besland, M, P, Goullet, A, Richard-Plouet, M

المساهمون: Institut des Matériaux Jean Rouxel (IMN), Université de Nantes - UFR des Sciences et des Techniques (UN UFR ST), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Ecole Polytechnique de l'Université de Nantes (EPUN), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Diélectriques Solides et Fiabilité (LAPLACE-DSF), LAboratoire PLasma et Conversion d'Energie (LAPLACE), Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)-Université de Toulouse (UT)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National Polytechnique (Toulouse) (Toulouse INP), Université de Toulouse (UT)-Université Toulouse III - Paul Sabatier (UT3), Université de Toulouse (UT)

المصدر: ISSN: 0169-4332.

مصطلحات موضوعية: [SPI]Engineering Sciences [physics]

العلاقة: hal-03449033; https://hal.science/hal-03449033Test; https://hal.science/hal-03449033/documentTest; https://hal.science/hal-03449033/file/2020_BESLAND_RICHARD-Plouet-ASS-in-press.pdfTest

الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2020.148510Test
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المؤلفون: Rupp, J.A.J., Janod, E., Besland, M.-P., Corraze, B., Kindsmüller, A., Querre, M., Tranchant, J., Cario, L., Dittmann, R., Waser, R., Wouters, D.J.

المساهمون: Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen (RWTH), JARA-FIT, Institut des Matériaux Jean Rouxel (IMN), Université de Nantes - UFR des Sciences et des Techniques (UN UFR ST), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Chimie du CNRS (INC)-Ecole Polytechnique de l'Université de Nantes (EPUN), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN), Res Ctr Julich GmbH

المصدر: ISSN: 0040-6090 ; Thin Solid Films ; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02793716Test ; Thin Solid Films, Elsevier, 2020, 705, pp.138063. ⟨10.1016/j.tsf.2020.138063⟩.

مصطلحات موضوعية: Vanadium Oxide, Vanadium Sesquioxide, V 2 O 3, Reactive Sputtering, Bixbyite, [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci]

العلاقة: hal-02793716; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02793716Test; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02793716/documentTest; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02793716/fileTest/BESLAND-Thin%20Solid%20Films_2020_705_138063.pdf

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المؤلفون: Babich, D, Tranchant, J, Adda, C, Corraze, B, Besland, M.-P, Warnike, P, Bedau, D, Bertoncini, P, Mevellec, J.-y, Humbert, B, Rupp, J, Hennen, T, Wouters, D, Llopis, R, Cario, L, Janod, E

المساهمون: Institut des Matériaux Jean Rouxel (IMN), Université de Nantes - UFR des Sciences et des Techniques (UN UFR ST), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Ecole Polytechnique de l'Université de Nantes (EPUN), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), CICNanoGUNE, The Swiss Light Source (SLS) (SLS-PSI), Paul Scherrer Institute (PSI), Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik II and Jülich-Aachen Research Alliance on Fundamentals of Information Technology (JARA-FIT), RWTH Aachen University, D-52056 Aachen, Germany

المصدر: https://hal.science/hal-03224199Test ; 2021.

مصطلحات موضوعية: [PHYS.COND.CM-SCE]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Strongly Correlated Electrons [cond-mat.str-el], [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci]

العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/arxiv/2105.05093; hal-03224199; https://hal.science/hal-03224199Test; https://hal.science/hal-03224199v2/documentTest; https://hal.science/hal-03224199v2/file/Lattice%20contraction%20V2O3_HAL_2021-10-18.pdfTest; ARXIV: 2105.05093

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المؤلفون: Babich, D, Tranchant, J, Adda, C, Corraze, B, Besland, M.-P, Warnike, P, Bedau, D, Bertoncini, P, Mevellec, J.-Y, Humbert, B, Rupp, J, Hennen, T, Wouters, D, Llopis, R, Cario, L, Janod, E

المساهمون: Institut des Matériaux Jean Rouxel (IMN), Université de Nantes, CNRS, 2 rue de la Houssinière, BP 32229, 44322 Nantes cedex 3, France, CICNanoGUNE, The Swiss Light Source (SLS) (SLS-PSI), Paul Scherrer Institute (PSI), Université de Nantes, CNRS, Institut des Matériaux Jean Rouxel, IMN, F-44000 Nantes, France, Institut für Werkstoffe der Elektrotechnik II and Jülich-Aachen Research Alliance on Fundamentals of Information Technology (JARA-FIT), RWTH Aachen University, D-52056 Aachen, Germany

المصدر: https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03224199Test ; 2021.

مصطلحات موضوعية: [PHYS.COND.CM-SCE]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Strongly Correlated Electrons [cond-mat.str-el], [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci]

العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/arxiv/2105.05093; hal-03224199; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03224199Test; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03224199/documentTest; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03224199/file/Microscopic%20identification.pdfTest; ARXIV: 2105.05093

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المؤلفون: Querre, M., Tranchant, J., Corraze, B., Cordier, Stéphane, Bouquet, V., Deputier, Stephanie, Guilloux-Viry, Maryline, Besland, M. -P., Janod, Etienne, Cario, Laurent

المساهمون: Institut des Matériaux Jean Rouxel (IMN), Université de Nantes - UFR des Sciences et des Techniques (UN UFR ST), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Ecole Polytechnique de l'Université de Nantes (EPUN), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut des Sciences Chimiques de Rennes (ISCR), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Ecole Nationale Supérieure de Chimie de Rennes (ENSCR)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), SATT Ouest-Valorisation, CNRS, Region Pays de la Loire

المصدر: ISSN: 0921-4526 ; EISSN: 1873-2135.

مصطلحات موضوعية: Mott insulators, V2O3, Mott transition, Resistive switching, Non-volatile memory, ReRAM, [CHIM]Chemical Sciences

العلاقة: hal-01807075; https://univ-rennes.hal.science/hal-01807075Test; https://univ-rennes.hal.science/hal-01807075/documentTest; https://univ-rennes.hal.science/hal-01807075/file/Physica%20b_Mott%20memory%20%20V2O3Cr_SCES_HAL.pdfTest

الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.physb.2017.10.060Test
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المؤلفون: Diener, Pascale, Janod, Etienne, Corraze, B., Querre, M., Adda, C., Guilloux-Viry, Maryline, Cordier, Stéphane, Camjayi, A., Rozenberg, M., Besland, M. p., Cario, Laurent

المساهمون: Institut des Matériaux Jean Rouxel (IMN), Université de Nantes - UFR des Sciences et des Techniques (UN UFR ST), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Ecole Polytechnique de l'Université de Nantes (EPUN), Université de Nantes (UN)-Université de Nantes (UN)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Institut des Sciences Chimiques de Rennes (ISCR), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Ecole Nationale Supérieure de Chimie de Rennes (ENSCR)-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Facultad de Ciencias Exactas y Naturales Buenos Aires (FCEyN), Universidad de Buenos Aires Buenos Aires (UBA), Laboratoire de Physique des Solides (LPS), Université Paris-Saclay-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Région Pays de la Loire, pari scientifique Neuro-Mott, ANR-16-CE30-0018,ELASTICA,Cooperativité Elastique Photo-Induite dans des Matériaux Bistables avec Changement de Volume(2016)

المصدر: ISSN: 0031-9007.

مصطلحات موضوعية: [PHYS.COND.CM-MS]Physics [physics]/Condensed Matter [cond-mat]/Materials Science [cond-mat.mtrl-sci]

العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/pmid/30028165; hal-01848488; https://hal.science/hal-01848488Test; https://hal.science/hal-01848488/documentTest; https://hal.science/hal-01848488/file/Diener%20et%20al.%20-%202018%20-%20How%20a%20dc%20Electric%20Field%20Drives%20Mott%20Insulators%20Out.pdfTest; PUBMED: 30028165

الإتاحة: https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.121.016601Test
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المؤلفون: Rupp, Jonathan Amadeus, Janod, E., Wouters, Dirk J., Besland, M.-P., Corraze, B., Kindsmüller, A., Querré, M., Tranchant, J., Cario, L., Dittmann, Regina, Waser, Rainer

المصدر: Thin solid films 705, 138063 (2020). doi:10.1016/j.tsf.2020.138063

مصطلحات موضوعية: info:eu-repo/classification/ddc/660

جغرافية الموضوع: DE

العلاقة: info:eu-repo/semantics/altIdentifier/issn/0040-6090; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/issn/1879-2731; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:000533601500004; https://publications.rwth-aachen.de/record/792280Test; https://publications.rwth-aachen.de/searchTest?p=id:%22RWTH-2020-05982%22

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