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1دورية أكاديمية
المؤلفون: Ahmeda, K., Ubochi, B., Alqaysi, M.H., Al-Khalidi, Abdullah, Wasige, Edward, Kalna, Karol
وصف الملف: text
العلاقة: http://eprints.gla.ac.uk/228522/2/228522.pdfTest; Ahmeda, K., Ubochi, B., Alqaysi, M.H., Al-Khalidi, A. , Wasige, E. and Kalna, K. (2020) The role of SiN/GaN cap interface charge and GaN cap layer to achieve enhancement mode GaN MIS-HEMT operation. Microelectronics Reliability , 115, 113965. (doi:10.1016/j.microrel.2020.113965 )
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2دورية أكاديمية
المؤلفون: Alqaysi, M H, Martinez, A, Ubochi, B, Batcup, S, Ahmeda, K
المصدر: Engineering Research Express ; volume 2, issue 4, page 045020 ; ISSN 2631-8695
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3دورية أكاديمية
المؤلفون: Ahmeda, K, Ubochi, B, Benbakhti, B, Duffy, SJ, Soltani, A, Zhang, WD, Kalna, K
مصطلحات موضوعية: TK Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
وصف الملف: text
العلاقة: https://researchonline.ljmu.ac.uk/id/eprint/7230/1/C%3A%5CUsers%5Cenrbbenb%5CDesktop%5CFINAL%20VERSION.pdfTest; Ahmeda, K, Ubochi, B, Benbakhti, B, Duffy, SJ, Soltani, A, Zhang, WD and Kalna, K (2017) Role of Self-Heating and Polarization in AlGaN/GaN Based Heterostructures. IEEE Access, 5. pp. 20946-20952. ISSN 2169-3536
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/ACCESS.2017.2755984Test
http://researchonline.ljmu.ac.uk/id/eprint/7230Test/
https://researchonline.ljmu.ac.uk/id/eprint/7230/1/C%3A%5CUsers%5Cenrbbenb%5CDesktop%5CFINAL%20VERSION.pdfTest -
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Duffy, S, Benbakhti, B, Zhang, WD, Ahmeda, K, Kalna, K, Boucherta, M, Mattalah, M, Chahdi, HO, Bourzgui, N-E, Soltani, A
مصطلحات موضوعية: TK Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
وصف الملف: text
العلاقة: https://researchonline.ljmu.ac.uk/id/eprint/12504/1/IEEE-TED-Accepted.pdfTest; Duffy, S, Benbakhti, B, Zhang, WD, Ahmeda, K, Kalna, K, Boucherta, M, Mattalah, M, Chahdi, HO, Bourzgui, N-E and Soltani, A (2020) A Parametric Technique for Traps Characterization in AlGaN/GaN HEMTs. IEEE Transactions on Electron Devices, 67 (5). pp. 1924-1930. ISSN 0018-9383
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/TED.2020.2980329Test
http://researchonline.ljmu.ac.uk/id/eprint/12504Test/
https://researchonline.ljmu.ac.uk/id/eprint/12504/1/IEEE-TED-Accepted.pdfTest -
5مؤتمر
المؤلفون: Duffy, S., Benbakhti, B., Zhang, W., Kalna, K., Ahmeda, K., Boucherta, M., Bourzgui, Nour-Eddine, Maher, H., Soltani, Ali
المساهمون: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF), Puissance - IEMN (PUISSANCE - IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF)-Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF), Laboratoire Nanotechnologies Nanosystèmes (LN2 ), Université de Sherbrooke (UdeS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes 2016-2019 (UGA 2016-2019 ), Institut Interdisciplinaire d'Innovation Technologique Sherbrooke (3IT), Université de Sherbrooke (UdeS)
المصدر: 2018 13th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02310028Test
2018 13th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), Sep 2018, Madrid, Spain. pp.214-217, ⟨10.23919/EuMIC.2018.8539935⟩مصطلحات موضوعية: [SPI]Engineering Sciences [physics]
جغرافية الموضوع: Spain
الوقت: Madrid, Spain
العلاقة: hal-02310028; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02310028Test
الإتاحة: https://doi.org/10.23919/EuMIC.2018.8539935Test
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02310028Test -
6مؤتمر
المؤلفون: Ahmeda, K, Ubochi, B, Kalna, K, Benbakhti, B, Duffy, SJ, Zhang, WD, Soltani, A
مصطلحات موضوعية: TK Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering
وصف الملف: text
العلاقة: https://researchonline.ljmu.ac.uk/id/eprint/6406/3/Self-Heating_and_Polarization_Effects.pdfTest; Ahmeda, K, Ubochi, B, Kalna, K, Benbakhti, B, Duffy, SJ, Zhang, WD and Soltani, A (2017) Self-Heating and Polarization Effects in AlGaN/AlN/GaN/AlGaN Based Devices. In: Proceedings of the European Microwave Integrated Circuits COnference . pp. 37-40. (European Microwave Week 2017, 08 October 2017 - 13 October 2017, Nuremberg, Germany).
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7مؤتمرA Source and Drain Transient Currents Technique for Trap Characterisation in AlGaN/GaN Based Devices
المؤلفون: Duffy, S. J., Benbakhti, B., Zhang, W., Kalna, K., Ahmeda, K., Maher, H., Soltani, A.
المساهمون: Institut d’Électronique, de Microélectronique et de Nanotechnologie - UMR 8520 (IEMN), Centrale Lille-Institut supérieur de l'électronique et du numérique (ISEN)-Université de Valenciennes et du Hainaut-Cambrésis (UVHC)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Polytechnique Hauts-de-France (UPHF), Laboratoire Nanotechnologies Nanosystèmes (LN2 ), Université de Sherbrooke (UdeS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes 2016-2019 (UGA 2016-2019 ), Institut Interdisciplinaire d'Innovation Technologique Sherbrooke (3IT), Université de Sherbrooke (UdeS)
المصدر: 47th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC)
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02310067Test
47th European Solid-State Device Research Conference (ESSDERC), Sep 2017, Leuven, Belgiumمصطلحات موضوعية: [SPI]Engineering Sciences [physics]
العلاقة: hal-02310067; https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-02310067Test
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8مؤتمر
المؤلفون: Ubochi, B., Ahmeda, K., Kalna, K.
المصدر: 2017 IEEE International Conference on Microwaves, Antennas, Communications and Electronic Systems (COMCAS)
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/comcas.2017.8244823Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/8231153/8244703/08244823.pdf?arnumber=8244823Test -
9مؤتمر
المؤلفون: Ahmeda, K., Ubochi, B., Kalna, K., Benbakhti, B., Duffy, S. J., Zhang, W., Soltani, A.
المصدر: 2017 12th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC)
الإتاحة: https://doi.org/10.23919/eumic.2017.8230654Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/8189162/8230630/08230654.pdf?arnumber=8230654Test -
10مؤتمر
المؤلفون: Ahmeda, K., Faramehr, S., Igic, P., Kalna, K., Duffy, S. J., Soltani, A., Benbakhti, B.
المصدر: 2016 11th International Conference on Advanced Semiconductor Devices & Microsystems (ASDAM)
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/asdam.2016.7805930Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/7794377/7805876/07805930.pdf?arnumber=7805930Test
