يعرض 1 - 10 نتائج من 73 نتيجة بحث عن '"一村 信吾"', وقت الاستعلام: 0.87s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Independence Availability of Measurement Data for Effective Use of Measurement Results / 計測データの効率的な活用を実現する独立可用性

    المؤلفون: Katsuhiro SHIRONO, Shingo ICHIMURA, Toshiyuki FUJIMOTO, 一村 信吾, 城野 克広, 藤本 俊幸

    المصدر: 計測と制御 / Journal of The Society of Instrument and Control Engineers. 2023, 62(7):415


    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    計測分析機器の出力データフォーマット共通化

    المؤلفون: Shingo ICHIMURA, Shinsuke INOUE, Takuo YASUNAGA, Tomoo SHIGEFUJI, 一村 信吾, 井上 信介, 安永 卓生, 重藤 知夫

    المصدر: 応用物理 / Oyo Buturi. 2023, 92(3):142


    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Creating a Measurement Analysis Platform for DX Promotion -CPS type complex measurement analysis and common data format concept / DX 推進に向けた計測分析プラットフォームの構築 ―CPS 型複合計測分析と共通データフォーマット構想―

    المؤلفون: Shingo Ichimura, 一村 信吾

    المصدر: Journal of Surface Analysis. 2023, 29(3):176

    View record in JSTAGE

    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    2022年度応用物理学会 功労会員の随想 応物学会での活動を振り返って（一村信吾）／応用物理学会での学びは一生もの（末光眞希）／応用物理学会とともに，そしてJJAP改革（岸野克巳）

    المؤلفون: 一村 信吾, 岸野 克巳, 末光 眞希

    المصدر: 応用物理 / Oyo Buturi. 2022, 91(12):773


    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    応用物理学会 第9回（2015年度）フェロー表彰受賞者紹介

    المؤلفون: 一村 信吾

    المصدر: 応用物理 / Oyo Buturi. 2015, 84(7):667


    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    The Purpose of This Special Feature / 特集の趣旨

    المؤلفون: Shingo ICHIMURA, 一村 信吾

    المصدر: 学術の動向 / TRENDS IN THE SCIENCES. 2013, 18(9):9-67

    View record in JSTAGE

    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    これからの公的研究機関の在り方

    المؤلفون: Shingo ICHIMURA, 一村 信吾

    المصدر: 応用物理 / Oyo Buturi. 2013, 82(8):672


    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    AFM探針形状評価用試料の開発と有効性

    المؤلفون: 一村 信吾, 井藤 浩志, 伊東 恒, 大知 渉之, 市丸 智, 畑山 雅俊, 竹中 久貴, 高野 明雄

    المصدر: JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2012, :1470

    View record in JSTAGE

    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية
    イオン液体ビーム源を用いた飛行時間二次イオン質量分析(TOF-SIMS)

    المؤلفون: 一村 信吾, 藤原 幸雄, 野中 秀彦, 齋藤 直昭

    المصدر: JSAP Annual Meetings Extended Abstracts. 2013, :1538

    View record in JSTAGE

    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية أكاديمية
    Standardization of Measurement and Characterization for Nanotechnology: Recent Trend and Roadmap / ナノ計測の標準化：最近の動向とロードマップ

    المؤلفون: Shingo ICHIMURA, 一村 信吾

    المصدر: Journal of the Vacuum Society of Japan. 2013, 56(7):249

    View record in JSTAGE

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS — أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني — حفظ البحث