المؤلفون: Alterovitz, S. A, Sieg, R. E, Yao, H. D, Snyder, P. G, Woollam, J. A, Pamulapati, J, Bhattacharya, P. K, Sekula-Moise, P. A

مصطلحات موضوعية: Solid-State Physics

الوصول الحر: https://ntrs.nasa.gov/citations/19900017367Test

المؤلفون: Alterovitz, S. A, Sieg, R. E, Yao, H. D, Snyder, P. G, Woollam, J. A, Pamulapati, J, Bhattacharya, P. K

مصطلحات موضوعية: Electronics And Electrical Engineering

الوصول الحر: https://ntrs.nasa.gov/citations/19910010038Test

المؤلفون: Franke, Eva, Trimble, C. L., DeVries, M. J., Woollam, J. A., Schubert, M., Frost, F.

المصدر: Journal of Applied Physics; 11/1/2000, Vol. 88 Issue 9, p5166, 9p, 1 Black and White Photograph, 4 Charts, 7 Graphs

مصطلحات موضوعية: DIELECTRICS, TANTALUM, ELLIPSOMETRY

المؤلفون: Berlind, Torun, 1965, Pribi, G. K., Thompson, D., Woollam, J. O., Arwin, Hans

المصدر: Physica Status Solidi. C, Current topics in solid state physics. 5(5):1249-1252

مصطلحات موضوعية: 07.60.Fs, 78.20.Ci, 87.14.E, NATURAL SCIENCES, NATURVETENSKAP

وصف الملف: print

الوصول الحر: https://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-19708Test
http://urn.kb.se/resolve?urn=urn:nbn:se:liu:diva-19710Test

المؤلفون: Schubert, M., Woollam, J. A.

المصدر: Journal of Applied Physics. 8/15/1999, Vol. 86 Issue 4, p2025. 9p. 2 Charts, 7 Graphs.

مصطلحات موضوعية: *ALUMINUM, *INDIUM, *PHOSPHORUS, *GALLIUM, *ELECTRIC breakdown

المؤلفون: Oh, J. E., Woollam, J. A., Aylesworth, K. D., Sellmyer, D. J., Pouch, J. J.

المصدر: Journal of Applied Physics. 12/15/1986, Vol. 60 Issue 12, p4281. 6p. 1 Diagram, 2 Charts, 7 Graphs.

مصطلحات موضوعية: *STRUCTURAL stability, *SPUTTERING (Physics), *THIN films, *GALLIUM arsenide

المؤلفون: Herzinger, C. M., Snyder, P. G., Celii, F. G., Kao, Y.-C., Chow, D., Johs, B., Woollam, J. A.

المصدر: Journal of Applied Physics; 3/1/1996, Vol. 79 Issue 5, p2663, 12p, 7 Charts, 10 Graphs

مصطلحات موضوعية: SPECTRUM analysis, ELLIPSOMETRY

المؤلفون: Herzinger, C. M., Yao, H., Snyder, P. G., Celii, F. G., Kao, Y.-C., Johs, B., Woollam, J. A.

المصدر: Journal of Applied Physics; 5/1/1995, Vol. 77 Issue 9, p4677, 11p, 4 Charts, 13 Graphs

مصطلحات موضوعية: OPTICAL constants, ELLIPSOMETRY, THIN films

المؤلفون: Herzinger, C. M., Snyder, P. G., Johs, B., Woollam, J. A.

المصدر: Journal of Applied Physics; 2/15/1995, Vol. 77 Issue 4, p1715, 10p, 3 Charts, 10 Graphs

مصطلحات موضوعية: INDIUM phosphide, OPTICAL constants, ELLIPSOMETRY

المؤلفون: Somoano, R. B., Hadek, V., Rembaum, A., Samson, S., Woollam, J. A.

المصدر: Journal of Chemical Physics; Feb1975, Vol. 62 Issue 3, p1068-1073, 6p