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71دورية أكاديمية
المؤلفون: Bocquet, Marc, Deleruyelle, Damien, Aziza, Hassen, Muller, Christophe, Portal, Jean-Michel, Cabout, Thomas, Jalaguier, Eric
المساهمون: Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)
المصدر: ISSN: 0018-9383 ; IEEE Transactions on Electron Devices ; https://hal.science/hal-01737291Test ; IEEE Transactions on Electron Devices, 2014, 61 (3), pp.674 - 681. ⟨10.1109/TED.2013.2296793⟩.
مصطلحات موضوعية: [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
العلاقة: hal-01737291; https://hal.science/hal-01737291Test; https://hal.science/hal-01737291/documentTest; https://hal.science/hal-01737291/file/Bocquet.2014.TED.Robust%20Compact%20Model_ExpreAnalityque.pdfTest
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/TED.2013.2296793Test
https://hal.science/hal-01737291Test
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72دورية أكاديمية
المؤلفون: Hraziia, H., Makosiej, Adam, Palma, Giorgio, Portal, Jean-Michel, Bocquet, Marc, Thomas, Olivier, Clermidy, Fabien, Reyboz, Marina, Onkaraiah, Santhosh, Muller, Christophe, Deleruyelle, Damien, Vladimirescu, Andrei, Amara, Amara, Anghel, Costin
المساهمون: Institut Supérieur d'Electronique de Paris (ISEP), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: ISSN: 0038-1101 ; Solid-State Electronics ; https://hal.science/hal-01744003Test ; Solid-State Electronics, 2013, 90, pp.99-106. ⟨10.1016/j.sse.2013.02.045⟩.
مصطلحات موضوعية: Resistive RAMs, NV-SRAM, Low power, Non-Volatile, Low leakage, FDSOI, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
العلاقة: hal-01744003; https://hal.science/hal-01744003Test; https://hal.science/hal-01744003/documentTest; https://hal.science/hal-01744003/file/Hrazii%20et%20al.%202013.%20Solid-State%20Electronics.%20Operation%20and%20stability%20analysis%20of%20bipolar%20OxRRAM-based%20Non-Volatile%208T2R%20SRAM%20as%20solutio.pdfTest
الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.sse.2013.02.045Test
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73دورية أكاديمية
المؤلفون: Putero, Magali, Coulet, Marie-Vanessa, Ouled-Khachroum, Toufik, Muller, Christophe, Baehtz, Carsten, Raoux, Simone
المصدر: APL Materials ; volume 1, issue 6 ; ISSN 2166-532X
مصطلحات موضوعية: General Engineering, General Materials Science
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74دورية أكاديمية
المساهمون: Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: ISSN: 1546-1998 ; Journal of Low Power Electronics ; https://hal.science/hal-01745507Test ; Journal of Low Power Electronics, 2012, 8 (1), pp.1 - 10. ⟨10.1166/jolpe.2012.1172⟩.
مصطلحات موضوعية: [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
العلاقة: hal-01745507; https://hal.science/hal-01745507Test; https://hal.science/hal-01745507/documentTest; https://hal.science/hal-01745507/file/Potal.2012.JOLPE.AuthorVer.Non-Volatile%20Flip-Flop%20Based%20on%20Unipolar%20ReRAM%20for%20Power-Down%20Applications.pdfTest
الإتاحة: https://doi.org/10.1166/jolpe.2012.1172Test
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75دورية أكاديمية
المؤلفون: Deleruyelle, D., Putero, Magali, Ouled-Khachroum, T., Bocquet, Marc, Coulet, M.V., Boddaert, Xavier, Calmes, C., Muller, Christophe
المساهمون: Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Département Packaging et Supports Souples (PS2-ENSMSE), École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-Institut Mines-Télécom Paris (IMT)-CMP-GC
المصدر: ISSN: 0038-1101 ; Solid-State Electronics ; https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00767177Test ; Solid-State Electronics, 2012, ⟨10.1016/j.sse.2012.06.010⟩.
مصطلحات موضوعية: Non-volatile memory, RRAM, Conductive-bridge memory, Atomic switches, Atomic force microscopy, Flexible electronics, Ge2Sb2Te5, GST, [SPI.TRON]Engineering Sciences [physics]/Electronics
العلاقة: emse-00767177; https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00767177Test; https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00767177/documentTest; https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00767177/file/Article_Deleruyelle_revised.pdfTest
الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.sse.2012.06.010Test
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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00767177/documentTest
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76دورية أكاديمية
المساهمون: Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence (IM2NP), Aix Marseille Université (AMU)-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: ISSN: 0003-6951.
مصطلحات موضوعية: [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics
العلاقة: hal-01779321; https://hal.science/hal-01779321Test; https://hal.science/hal-01779321/documentTest; https://hal.science/hal-01779321/file/APLv2.0.pdfTest
الإتاحة: https://doi.org/10.1063/1.3605591Test
https://hal.science/hal-01779321Test
https://hal.science/hal-01779321/documentTest
https://hal.science/hal-01779321/file/APLv2.0.pdfTest -
77تقرير
المؤلفون: Dubois, Florent, Muller, Christophe
المساهمون: University of Reading (UOR), Aix-Marseille Sciences Economiques (AMSE), École des hautes études en sciences sociales (EHESS)-Aix Marseille Université (AMU)-École Centrale de Marseille (ECM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), ANR-17-CE39-0009,TMENA2,Terrorisme, Radicalisation et Politique Gouvernementale dans les Pays Arabes(2017), ANR-18-CE26-0020,MaRiNe,Gestion du Risque sur les Réseaux(2018), ANR-17-EURE-0020,AMSE (EUR),Aix-Marseille School of Economics(2017), ANR-11-IDEX-0001,Amidex,INITIATIVE D'EXCELLENCE AIX MARSEILLE UNIVERSITE(2011)
مصطلحات موضوعية: Residential segregation, Post-Apartheid South Africa, Distribution analysis, Generalized decompositions, JEL: J - Labor and Demographic Economics/J.J1 - Demographic Economics/J.J1.J15 - Economics of Minorities, Races, Indigenous Peoples, and Immigrants • Non-labor Discrimination, JEL: D - Microeconomics/D.D3 - Distribution/D.D3.D31 - Personal Income, Wealth, and Their Distributions, JEL: R - Urban, Rural, Regional, Real Estate, and Transportation Economics/R.R2 - Household Analysis/R.R2.R23 - Regional Migration • Regional Labor Markets • Population • Neighborhood Characteristics, [SHS.ECO]Humanities and Social Sciences/Economics and Finance, demo, socio
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78تقرير
المؤلفون: Muller, Christophe
المساهمون: Groupement de Recherche en Économie Quantitative d'Aix-Marseille (GREQAM), École des hautes études en sciences sociales (EHESS)-Aix Marseille Université (AMU)-École Centrale de Marseille (ECM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: https://shs.hal.science/halshs-00993393Test ; 2014.
مصطلحات موضوعية: agricultural household, separability, Ethiopia, [SHS.ECO]Humanities and Social Sciences/Economics and Finance
العلاقة: halshs-00993393; https://shs.hal.science/halshs-00993393Test; https://shs.hal.science/halshs-00993393/documentTest; https://shs.hal.science/halshs-00993393/file/WP_2014_-_Nr_18.pdfTest
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79
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80دورية أكاديمية
المؤلفون: Courtade, L., Turquat, Ch., Muller, Christophe, Lisoni, J.G., Goux, L., Wouters, D.J., Goguenheim, D., Roussel, Pascal, Ortega, Luc
المساهمون: Laboratoire matériaux et microélectronique de Provence (L2MP), Université Paul Cézanne - Aix-Marseille 3-Université de Provence - Aix-Marseille 1-Université de Toulon (UTLN)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), IMEC (IMEC), Catholic University of Leuven = Katholieke Universiteit Leuven (KU Leuven), Unité de Catalyse et Chimie du Solide - UMR 8181 (UCCS), Université d'Artois (UA)-Centrale Lille-Institut de Chimie - CNRS Chimie (INC-CNRS)-Université de Lille-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), X'Press : diffraction et hautes pressions (NEEL - X'Press), Institut Néel (NEEL), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP )-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: ISSN: 0040-6090 ; Thin Solid Films ; https://hal.science/hal-00187467Test ; Thin Solid Films, 2008, 516 (12), pp.4083-4092. ⟨10.1016/j.tsf.2007.09.050⟩.
مصطلحات موضوعية: [CHIM.INOR]Chemical Sciences/Inorganic chemistry
العلاقة: hal-00187467; https://hal.science/hal-00187467Test; https://hal.science/hal-00187467/documentTest; https://hal.science/hal-00187467/file/2007-oxydation_Ni-Thin_solid_films.pdfTest
الإتاحة: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2007.09.050Test
https://hal.science/hal-00187467Test
https://hal.science/hal-00187467/documentTest
https://hal.science/hal-00187467/file/2007-oxydation_Ni-Thin_solid_films.pdfTest
