-
61دورية أكاديمية
المؤلفون: Seoane, Natalia, Indalecio, Guillermo, Comesana, Enrique, Aldegunde, Manuel, Garcia-Loureiro, Antonio J., Kalna, Karol
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices ; volume 61, issue 2, page 466-472 ; ISSN 0018-9383 1557-9646
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/ted.2013.2294213Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/16/6717047/06691941.pdf?arnumber=6691941Test -
62كتاب
المؤلفون: Aldegunde, Manuel, García-Loureiro, Antonio J., Kalna, Karol
المصدر: Large-Scale Scientific Computing ; Lecture Notes in Computer Science ; page 115-122 ; ISSN 0302-9743 1611-3349 ; ISBN 9783540788256 9783540788270
-
63مؤتمر
المصدر: 2008 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/sispad.2008.4648260Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/4636077/4648212/04648260.pdf?arnumber=4648260Test -
64مؤتمر
المؤلفون: Seoane, Natalia, Garcia-Loureiro, Antonio, Kalna, Karol, Asenov, Asen
المصدر: 2007 Spanish Conference on Electron Devices
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/sced.2007.384001Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/4271145/4271146/04271176.pdf?arnumber=4271176Test -
65مؤتمر
المصدر: 2007 Spanish Conference on Electron Devices
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/sced.2007.384003Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/4271145/4271146/04271178.pdf?arnumber=4271178Test -
66مؤتمر
المؤلفون: Garcia-Loureiro, Antonio J., Kalna, Karol, Asenov, Asen
المصدر: 2007 Spanish Conference on Electron Devices
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/sced.2007.383995Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/4271145/4271146/04271168.pdf?arnumber=4271168Test -
67دورية أكاديمية
المؤلفون: Martinez, Antonio, Kalna, Karol, Aldegunde, Manuel
المصدر: MRS Proceedings ; volume 1550 ; ISSN 0272-9172 1946-4274
الإتاحة: https://doi.org/10.1557/opl.2013.639Test
https://www.cambridge.org/core/services/aop-cambridge-core/content/view/S1946427413006398Test -
68دورية أكاديمية
المصدر: MRS Proceedings ; volume 1553 ; ISSN 0272-9172 1946-4274
الإتاحة: https://doi.org/10.1557/opl.2013.1057Test
https://www.cambridge.org/core/services/aop-cambridge-core/content/view/S1946427413010579Test -
69دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices ; volume 60, issue 5, page 1561-1567 ; ISSN 0018-9383 1557-9646
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/ted.2013.2253465Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/16/6504760/06497565.pdf?arnumber=6497565Test -
70دورية أكاديمية
المؤلفون: Benbakhti, Brahim, Martinez, Antonio, Kalna, Karol, Hellings, Geert, Eneman, Geert, De Meyer, Kristin, Meuris, Marc
العلاقة: IEEE Transactions on Nanotechnology vol:11 issue:4 pages:808-817; https://lirias.kuleuven.be/handle/123456789/421914Test; P22949
