يعرض 1 - 2 نتائج من 2 نتيجة بحث عن '"Agrawal, Khushabu S."', وقت الاستعلام: 1.91s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    The effect of post-deposition annealing on the chemical, structural and electrical properties of Al/ZrO2/La2O3/ZrO2/Al high-k nanolaminated MIM capacitors.

    المؤلفون: Patil, Sumit R., Barhate, Viral N., Patil, Vilas S., Agrawal, Khushabu S., Mahajan, Ashok M.

    المصدر: Journal of Materials Science: Materials in Electronics; May2022, Vol. 33 Issue 14, p11227-11235, 9p

    مصطلحات موضوعية: METAL oxide semiconductor capacitors, X-ray photoelectron spectroscopy, ATOMIC layer deposition, CAPACITORS, ATOMIC force microscopy, X-ray diffraction measurement, STRAY currents


    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Plasma-enhanced atomic layer-deposited La2O3 ultra-thin films on Si and 6H–SiC: a comparative study.

    المؤلفون: Agrawal, Khushabu S.1,2 (AUTHOR), Barhate, Viral N.1 (AUTHOR), Patil, Vilas S.1,2 (AUTHOR), Patil, Lalit S.3 (AUTHOR), Mahajan, A. M.1 (AUTHOR) ammahajan@nmu.ac.in

    المصدر: Applied Physics A: Materials Science & Processing. Aug2020, Vol. 126 Issue 8, pN.PAG-N.PAG. 1p. 1 Diagram, 2 Charts, 9 Graphs.

    مصطلحات موضوعية: *METAL oxide semiconductors, *ATOMIC layer deposition, *X-ray photoelectron spectroscopy, *ATOMIC force microscopy, *TRANSMISSION electron microscopy, *GOLD


    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS — أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني — حفظ البحث