يعرض 1 - 5 نتائج من 5 نتيجة بحث عن '"See, Chan H."', وقت الاستعلام: 1.00s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المساهمون: European Commission

    العلاقة: info:eu-repo/grantAgreement/EC/H2020/MSCA-ITN-2016 SECRET-722424; Alibakhshikenari, M., Virdee, B., Shukla, P., See, C., Abd-Alhameed, R., Khalily, M., Falcone, F., & Limiti, E. (2018). Antenna mutual coupling suppression over wideband using embedded periphery slot for antenna arrays. Electronics, 7(9), 198.; http://hdl.handle.net/10016/36994Test; https://doi.org/10.3390/electronics7090198Test; 11; Electronics; AR/0000028173

  2. 2
  3. 3
    مؤتمر

    المساهمون: Universidad Pública de Navarra. Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica y de Comunicación, Nafarroako Unibertsitate Publikoa. Ingeniaritza Elektriko, Elektroniko eta Telekomunikazio Saila

    وصف الملف: application/pdf

    العلاقة: 2018 Asia-Pacific Microwave Conference (APMC), Kyoto, 2018, pp. 500-502.; info:eu-repo/grantAgreement/European Commission/Horizon 2020 Framework Program/722424; https://doi.org/10.23919/APMC.2018.8617287Test; https://hdl.handle.net/2454/36150Test

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المساهمون: Universidad Pública de Navarra. Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica y de Comunicación, Nafarroako Unibertsitate Publikoa. Ingeniaritza Elektriko eta Elektronikoa eta Komunikazio Saila

    وصف الملف: application/pdf

    العلاقة: Electronics, 7 (9); info:eu-repo/grantAgreement/European Commission/Horizon 2020 Framework Program/722424; https://doi.org/10.3390/electronics7090198Test; https://hdl.handle.net/2454/33110Test

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المساهمون: Universidad Pública de Navarra. Departamento de Ingeniería Eléctrica, Electrónica y de Comunicación, Nafarroako Unibertsitate Publikoa. Ingeniaritza Elektriko eta Elektronikoa eta Komunikazio Saila

    وصف الملف: application/pdf

    العلاقة: Radio Science, 53 (11), 1368-1381; info:eu-repo/grantAgreement/European Commission/Horizon 2020 Framework Program/722424; https://doi.org/10.1029/2018RS006533Test; 0048-6604 (Print); 1944-799X (Electronic); https://hdl.handle.net/2454/33111Test