المؤلفون: Michael, Maria K., Harrod, Peter, Hamdioui, Said

مصطلحات موضوعية: Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica, Microelectronics, Integrated circuits, Spintronics, Microelectrònica, Circuits integrats, Espintrònica

وصف الملف: 1 p.; application/pdf

العلاقة: Michael, M.K.; Harrod, P.; Hamdioui, S. ETS 2022 Distinguished Service Award. A: 27th IEEE European Test Symposium (ETS). 2022; http://hdl.handle.net/2117/372186Test

الإتاحة: http://hdl.handle.net/2117/372186Test

المؤلفون: Fieback, Moritz, Münch, Christopher, Gebregiorgis, Anteneh, Cardoso Medeiros, Guilherme, Taouil, Mottaqiallah, Hamdioui, Said, Tahoori, Mehdi

مصطلحات موضوعية: Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica, Microelectronics, Integrated circuits, Spintronics, Computation-in-Memory (CiM), PVT, Emerging memories, STT-MRAM, RRAM, Reliability, Microelectrònica, Circuits integrats, Espintrònica

وصف الملف: 6 p.; application/pdf

العلاقة: https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/9810327/proceedingTest; Fieback, M. [et al.]. S8 - PVT Analysis for RRAM and STT-MRAM-based Logic Computation-in-Memory. A: 27th IEEE European Test Symposium (ETS). 2022; http://hdl.handle.net/2117/372160Test

الإتاحة: http://hdl.handle.net/2117/372160Test

المؤلفون: Köylü, Troya Çagıl, Hamdioui, Said, Taouil, Mottaqiallah

مصطلحات موضوعية: Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica, Microelectronics, Integrated circuits, Spintronics, Artificial neural network, Redundancy, Fault injection, Countermeasure, Machine learning, Microelectrònica, Circuits integrats, Espintrònica

وصف الملف: 2 p.; application/pdf

العلاقة: https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/9810327/proceedingTest; Köylü, T.Ç.; Hamdioui, S.; Taouil, M. POS2 - Smart Redundancy Schemes for ANNs Against Fault Attacks. A: 27th IEEE European Test Symposium (ETS). 2022; http://hdl.handle.net/2117/372123Test

الإتاحة: http://hdl.handle.net/2117/372123Test

المؤلفون: Gebregiorgis, Anteneh, Zografou, Artemis, Hamdioui, Said

مصطلحات موضوعية: Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica::Microelectrònica, Microelectronics, Integrated circuits, Spintronics, CIM, Fault tolerance, RRAM, BNN, Microelectrònica, Circuits integrats, Espintrònica

وصف الملف: 2 p.; application/pdf

العلاقة: https://ieeexplore.ieee.org/xpl/conhome/9810327/proceedingTest; Gebregiorgis, A.; Zografou, A.; Hamdioui, S. POS1 - RRAM Crossbar-Based Fault-Tolerant Binary Neural Networks (BNNs). A: 27th IEEE European Test Symposium (ETS). 2022; http://hdl.handle.net/2117/372113Test

الإتاحة: http://hdl.handle.net/2117/372113Test

المؤلفون: Taouil, Mottaqiallah¹ M.Taouil@tudelft.nl, Hamdioui, Said¹ S.Hamdioui@tudelft.nl, Beenakker, Kees¹ C.I.M.Beenakker@tudelft.nl, Marinissen, Erik² erik.jan.marinissen@imec.be

المصدر: Journal of Electronic Testing. Feb2012, Vol. 28 Issue 1, p15-25. 11p.

مصطلحات موضوعية: *SEMICONDUCTOR wafers, *ALGEBRAIC stacks, *MICROELECTRONICS, *INTEGRATED circuits, *MANUFACTURING industries