-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Klinger, D.1, Żymierska, D.1 zymier@ifpan.edu.pl, Minikayev, R.1, Nowakowska-Langier, K.2, Pelka, J.B.1, Nowicki, L.3, Kozankiewicz, B.1, Caliebe, W.4
المصدر: Radiation Physics & Chemistry. Oct2011, Vol. 80 Issue 10, p1064-1067. 4p.
مصطلحات موضوعية: *ANNEALING of crystals, *GERMANIUM, *TIN, *ION implantation, *SILICON, *LASER beams, *BACKSCATTERING, *X-ray diffraction, *SYNCHROTRON radiation
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Klinger, D.1, łusakowska, E.1, Kret, S.1, Kozankiewicz, B.1, Żymierska, D. zymier@ifpan.edu.pl
المصدر: Radiation Physics & Chemistry. Oct2011, Vol. 80 Issue 10, p1031-1035. 5p.
مصطلحات موضوعية: *LASER ablation, *ELECTRON microscopy, *INTERFERENCE microscopy, *ATOMIC force microscopy, *SILICON, *SURFACE chemistry, *LASER beams
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Klinger, D.1, Łusakowska, E.1, Żymierska, D. zymier@ifpan.edu.pl
المصدر: Materials Science in Semiconductor Processing. Feb2006, Vol. 9 Issue 1-3, p323-326. 4p.
مصطلحات موضوعية: *LASER ablation, *ATOMIC force microscopy, *ANNEALING of metals, *LASER beams
