المؤلفون: Arellano Espitia, Francisco

المساهمون: University/Department: Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica

مرشدي الرسالة: Delgado Prieto, Miquel, Osornio Ríos, Roque Alfredo

المصدر: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)

مصطلحات موضوعية: Condition monitoring, Fault diagnosis, Industrial machines, Artificial intelligence, Deep learning, Anomaly detection, Compact clustering, Transfer learning, Domain adaptation, Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica, Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica

الوقت: 621.3

وصف الملف: application/pdf

الوصول الحر: http://hdl.handle.net/10803/690242Test

المؤلفون: Arellano Espitia, Francisco

المساهمون: Delgado Prieto, Miquel, Osornio Ríos, Roque Alfredo, Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Enginyeria Electrònica

المصدر: TDX (Tesis Doctorals en Xarxa)

مصطلحات موضوعية: Condition monitoring, Fault diagnosis, Industrial machines, Artificial intelligence, Deep learning, Anomaly detection, Compact clustering, Transfer learning, Domain adaptation, Àrees temàtiques de la UPC::Enginyeria electrònica, Àrees temàtiques de la UPC::Informàtica, 621.3

الوقت: 004

وصف الملف: 146 p.; application/pdf

العلاقة: http://hdl.handle.net/10803/690242Test

الإتاحة: http://hdl.handle.net/10803/690242Test