-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Sobierajski, R., Jacyna, I., Dlužewski, P., Klepka, M.T., Klinger, D., Pelka, J. B., Burian, T. (Tomáš), Hájková, V. (Věra), Juha, L. (Libor), Saksl, K., Vozda, V. (Vojtěch), Makhotkin, I., Louis, E., Faatz, B., Tiedtke, K., Toleikis, S., Enkisch, H., Hermann, M., Strobel, S., Loch, R.A., Chalupský, J. (Jaromír)
مصطلحات موضوعية: free-electron lasers, damage, x-rays, soft x-rays, extreme ultraviolet (EUV), semiconductor materials, materials processing
العلاقة: urn:pissn: 1094-4087; http://hdl.handle.net/11104/0264888Test
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Sobierajski, R., Bruijn, S., Khorsand, A.R., Louis, E., van de Kruijs, R.W.E., Burian, T. (Tomáš), Chalupský, J. (Jaromír), Cihelka, J. (Jaroslav), Gleeson, A., Grzonka, J., Gullikson, E.M., Hájková, V. (Věra), Hau-Riege, S., Juha, L. (Libor), Jurek, M., Klinger, D., Krzywinski, J., London, R., Pelka, J. B., Płociński, T., Rasiński, M., Tiedtke, K., Toleikis, S., Vyšín, L. (Luděk), Wabnitz, H., Bijkerk, F.
مصطلحات موضوعية: laser damage, thermal effects, multilayers, optical design and fabrication, free-electron lasers
العلاقة: urn:pissn: 1094-4087; http://hdl.handle.net/11104/0197124Test
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Khorsand, A.R., Sobierajski, R., Louis, E., Bruijn, S., van Hattum, E.D., van de Kruijs, R.W.E., Jurek, M., Klinger, D., Pelka, J. B., Juha, L. (Libor), Burian, T. (Tomáš), Chalupský, J. (Jaromír), Cihelka, J. (Jaroslav), Hájková, V. (Věra), Vyšín, L. (Luděk), Jastrow, U., Stojanovic, N., Toleikis, S., Wabnitz, H., Tiedtke, K., Sokolowski-Tinten, K., Shymanovich, U., Krzywinski, J., Hau-Riege, S., London, R., Gleeson, A., Gullikson, E.M., Bijkerk, F.
مصطلحات موضوعية: laser damage, thermal effects, multilayers, optical design and fabrication, free-electron lasers
العلاقة: urn:pissn: 1094-4087; http://hdl.handle.net/11104/0185200Test