-
1تقرير
المؤلفون: Edmonds, L. D
مصطلحات موضوعية: Electronics And Electrical Engineering
العلاقة: A Method for Estimating the Probability of Floating Gate Prompt Charge Loss in a Radiation Environment
الوصول الحر: https://ntrs.nasa.gov/citations/20160005612Test
-
2
-
3تقرير
-
4
-
5تقرير
المؤلفون: Kim, Q, Schwartz, H. R, Edmonds, L. D, Zoutendyk, J. A
المصدر: Solid-State Electronics. 35(7)
مصطلحات موضوعية: Electronics And Electrical Engineering
الوصول الحر: https://ntrs.nasa.gov/citations/19930066502Test
-
6تقرير
المؤلفون: Zoutendyk, J. A, Smith, L. S, Edmonds, L. D
المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science. 37
مصطلحات موضوعية: Electronics And Electrical Engineering
الوصول الحر: https://ntrs.nasa.gov/citations/19910038415Test
-
7تقرير
المؤلفون: Edmonds, L. D., Scheick, L. Z., Banker, M. W.
مصطلحات موضوعية: single-event gate rupture (SEGR), design case devices, conservative rate, particle energy, linear energy transfer, Electronics and Electrical Engineering
وصف الملف: application/pdf
العلاقة: IEEE Nuclear & Space Radiation Effects Conference (NSREC 2012), Miami, Florida, July 16-20, 2012.; 12-4602; http://hdl.handle.net/2014/43181Test
الإتاحة: http://hdl.handle.net/2014/43181Test
-
8تقرير
المؤلفون: Zoutendyk, J. A, Edmonds, L. D, Smith, L. S
المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science. 36
مصطلحات موضوعية: Electronics And Electrical Engineering
الوصول الحر: https://ntrs.nasa.gov/citations/19900038489Test
-
9تقرير
المؤلفون: Edmonds, L. D
المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science. 36
مصطلحات موضوعية: Electronics And Electrical Engineering
الوصول الحر: https://ntrs.nasa.gov/citations/19900056545Test
-
10تقرير
المؤلفون: Edmonds, L
المصدر: IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility. EMC-27
مصطلحات موضوعية: Electronics And Electrical Engineering
الوصول الحر: https://ntrs.nasa.gov/citations/19850039874Test
