-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Jianfeng Liu, Vanhaute, H., Moonen, M., Bourdoux, A., Man, H.
المصدر: IEEE Transactions on Communications ; volume 57, issue 7, page 1889-1891 ; ISSN 0090-6778
مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/tcomm.2009.07.050241Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/26/5165372/05165376.pdf?arnumber=5165376Test -
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Van Meerbergen, G., Moonen, M., De Man, H.
المصدر: IEEE Transactions on Signal Processing ; volume 54, issue 11, page 4446-4460 ; ISSN 1053-587X
مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering, Signal Processing
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/tsp.2006.880047Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/78/36087/01710388.pdf?arnumber=1710388Test -
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Daems, W., De Smedt, B., Vanassche, P., Gielen, G., Sansen, W., De Man, H.
المصدر: IEEE Transactions on Education ; volume 46, issue 1, page 157-167 ; ISSN 0018-9359
مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering, Education
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/te.2002.808229Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/13/26560/01183680.pdf?arnumber=1183680Test -
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Vermeulen, F., Catthoor, F., Nachtergaele, L., Verkest, D., De Man, H.
المصدر: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems ; volume 11, issue 3, page 376-385 ; ISSN 1063-8210 1557-9999
مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering, Hardware and Architecture, Software
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/tvlsi.2003.810779Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/92/27383/01218212.pdf?arnumber=1218212Test -
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Innocent, M., Wambacq, P., Donnay, S., Tilmans, H.A.C., Sansen, W., De Man, H.
المصدر: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems ; volume 22, issue 2, page 124-131 ; ISSN 0278-0070
مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering, Computer Graphics and Computer-Aided Design, Software
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/tcad.2002.806603Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/43/26375/01174089.pdf?arnumber=1174089Test -
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Petre, F., Leus, G., Deneire, L., Engels, M., Moonen, M., De Man, H.
المصدر: IEEE Journal on Selected Areas in Communications ; volume 21, issue 3, page 350-361 ; ISSN 0733-8716
مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering, Computer Networks and Communications
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/jsac.2003.809630Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/49/26726/01192173.pdf?arnumber=1192173Test -
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Thoen, S., Deneire, L., Van der Perre, L., Engels, M., De Man, H.
المصدر: IEEE Transactions on Wireless Communications ; volume 2, issue 1, page 129-140 ; ISSN 1536-1276
مصطلحات موضوعية: Applied Mathematics, Electrical and Electronic Engineering, Computer Science Applications
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/twc.2002.806377Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/7693/26381/01175126.pdf?arnumber=1175126Test -
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Thoen, S., Van der Perre, L., Engels, M., De Man, H.
المصدر: IEEE Transactions on Communications ; volume 50, issue 11, page 1798-1810 ; ISSN 0090-6778
مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/tcomm.2002.805260Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/26/24079/01097890.pdf?arnumber=1097890Test -
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Eberle, W., Derudder, V., Vanwijnsberghe, G., Vergara, M., Deneire, L., Van der Perre, L., Engels, M.G.E., Bolsens, I., De Man, H.
المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits ; volume 36, issue 11, page 1829-1838 ; ISSN 0018-9200
مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/4.962306Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/4/20772/00962306.pdf?arnumber=962306Test -
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Vermeulen, F., Catthoor, F., Verkest, D., de Man, H.
المصدر: IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems ; volume 8, issue 2, page 207-216 ; ISSN 1063-8210 1557-9999
مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering, Hardware and Architecture, Software
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/92.831440Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/92/18023/00831440.pdf?arnumber=831440Test