-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Tan, H. (author), Turner, S. (author), Yücelen, E. (author), Verbeeck, J. (author), Van Tendeloo, G. (author)
العلاقة: Physical Review Letters, 107 (10), 2011--0031-9007; https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.107.107602Test; http://resolver.tudelft.nl/uuid:b99dc10f-5f80-44b3-b258-9f6326c33d90Test
الإتاحة: https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.107.107602Test
http://resolver.tudelft.nl/uuid:b99dc10f-5f80-44b3-b258-9f6326c33d90Test -
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Verbeeck, J.1,2 jo.verbeeck@ua.ac.be, Bertoni, G.1,3
المصدر: Ultramicroscopy. Oct2009, Vol. 109 Issue 11, p1343-1352. 10p.
مصطلحات موضوعية: *DECONVOLUTION (Mathematics), *SPECTRUM analysis, *ELECTRON energy loss spectroscopy, *SCATTERING (Physics), *GAUSSIAN processes, *MAXIMUM entropy method, *OPTICAL resolution
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Van den Broek, W.1 wouter.vandenbroek@ua.ac.be, Verbeeck, J.1, Schryvers, D.1, De Backer, S.2, Scheunders, P.2
المصدر: Ultramicroscopy. Mar2009, Vol. 109 Issue 4, p296-303. 8p.
مصطلحات موضوعية: *SPECTROSCOPIC imaging, *TOMOGRAPHY, *OPTICS, *ELECTRON energy loss spectroscopy, *GEOMETRIC modeling
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Bertoni, G. http://webhost.ua.ac.be/ematTest/, Verbeeck, J.1
المصدر: Ultramicroscopy. Jul2008, Vol. 108 Issue 8, p782-790. 9p.
مصطلحات موضوعية: *ENERGY dissipation, *SPECTRUM analysis instruments, *PARTICLES (Nuclear physics), *SPECTROMETERS
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Verbeeck, J. http://www.emat.ua.ac.beTest/, Van Aert, S.1, Bertoni, G.1
المصدر: Ultramicroscopy. Oct2006, Vol. 106 Issue 11/12, p976-980. 5p.
مصطلحات موضوعية: *SPECTRUM analysis, *ENERGY dissipation, *PARTICLES (Nuclear physics), *ELECTRON energy loss spectroscopy
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Van den Broek, W.1,2 wouter.vandenbroek@ua.ac.be, Verbeeck, J.1, De Backer, S.2, Scheunders, P.2, Schryvers, D.1
المصدر: Ultramicroscopy. Mar2006, Vol. 106 Issue 4/5, p269-276. 8p.
مصطلحات موضوعية: *PARTICLES (Nuclear physics), *PROPERTIES of matter, *MEASUREMENT, *FORCE & energy
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Verbeeck, J. http://webhost.ua.ac.be/ematTest/, Van Aert, S.1
المصدر: Ultramicroscopy. Nov2004, Vol. 101 Issue 2-4, p207-224. 18p.
مصطلحات موضوعية: *SPECTRUM analysis, *EELS, *ENERGY dissipation, *OPEN source software
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Bertoni, G.1 http://webhost.ua.ac.be/ematTest/, Beyers, E.2, Verbeeck, J.1, Mertens, M.3, Cool, P.2, Vansant, E.F.2, Van Tendeloo, G.1
المصدر: Ultramicroscopy. May2006, Vol. 106 Issue 7, p630-635. 6p.
مصطلحات موضوعية: *SPECTRUM analysis, *ELECTRON spectroscopy, *ELECTRON energy loss spectroscopy, *ENERGY dissipation
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Egoavil, R.1 ricardo.egoavil@uantwerpen.be, Gauquelin, N.1, Martinez, G.T.1, Van Aert, S.1, Van Tendeloo, G.1, Verbeeck, J.1
المصدر: Ultramicroscopy. Dec2014, Vol. 147, p1-7. 7p.
مصطلحات موضوعية: *ELECTRON energy loss spectroscopy, *SCANNING transmission electron microscopy, *OPTICAL resolution, *PHONONS, *EXCITATION spectrum, *ELECTRON accelerators, *MONOCHROMATORS