يعرض 1 - 10 نتائج من 21 نتيجة بحث عن '"Woollam, J A."', وقت الاستعلام: 0.83s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    HEX 2.0: an improved local seismic phase associator

    المؤلفون: Rietbrock, A., Woollam, J., Cianetti, S., Giunchi, C.

    المصدر: XXVIII General Assembly of the International Union of Geodesy and Geophysics (IUGG)

    العلاقة: https://gfzpublic.gfz-potsdam.de/pubman/item/item_5019849Test

    الإتاحة: https://doi.org/10.57757/IUGG23-3984Test
    https://gfzpublic.gfz-potsdam.de/pubman/item/item_5019849Test

    View record in BASE

    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Characterizing antireflection coatings on textured monocrystalline silicon with Spectroscopic Ellipsometry

    المؤلفون: Sun, Jianing, Saenger, Mario F., Schubert, Mathias, Hilfiker, James N., Ron Synowicki, Herzinger, Craig M., Woollam, J. A.

    المصدر: 2009 34th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)

    الإتاحة: https://doi.org/10.1109/pvsc.2009.5411301Test
    http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/5401175/5411118/05411301.pdf?arnumber=5411301Test

    View record in BASE

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    R.F. Plasma CVD Of Diamond From Oxygen Containing Gases

    المؤلفون: Meyer, D. E., Kustka, T. B., Dillon, R. O., Woollam, J. A.

    المساهمون: Feldman, Albert, Holly, Sandor

    المصدر: SPIE Proceedings ; Diamond Optics II ; ISSN 0277-786X

    الإتاحة: https://doi.org/10.1117/12.962058Test

    View record in BASE

    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    Pulsed Laser Deposition of HTSC Thallium Films

    المؤلفون: Ianno, N. J., Woollam, J. A., Liou, S. H., Thompson, D., Johs, B.

    المساهمون: Venkatesan, T.

    المصدر: SPIE Proceedings ; Processing of Films for High Tc Superconducting Electronics ; ISSN 0277-786X

    الإتاحة: https://doi.org/10.1117/12.965150Test

    View record in BASE

    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    مؤتمر
    Materials Characterization using THz Ellipsometry.

    المؤلفون: Hofmann, T., Herzinger, C. M., Woollam, J. A., Schubert, M.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library; 2009, Vol. 1163 Issue 1, p1-6, 6p


    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    مؤتمر
    Monitoring Organic Thin Film Growth In Aqueous Solution In-situ With A Combined Quartz Crystal Microbalance and Ellipsometry.

    المؤلفون: Sarkar, A., Viitala, T., Hofmann, T., Tiwald, T. E., Woollam, J. A., Kjerstad, A., Laderian, B., Schubert, M.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library; 2008, Vol. 1146 Issue 1, p1-7, 7p


    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    مؤتمر
    Infrared ellipsometric characterization of silicon nitride films on textured Si photovoltaic cells.

    المؤلفون: Saenger, M. F., Schädel, M., Hofmann, T., Hilfiker, J., Sun, J., Tiwald, T., Schubert, M., Woollam, J. A.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library; 2008, Vol. 1123 Issue 1, p1-6, 6p


    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    مؤتمر
    Terahertz Ellipsometry Using Electron-Beam Based Sources.

    المؤلفون: Hofmann, T., Herzinger, C. M., Schade, U., Mross, M., Woollam, J. A., Schubert, M.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library; 2008, Vol. 1108 Issue 1, p1-6, 6p


    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    Electrochromic emittance modulation devices for spacecraft thermal control.

    المؤلفون: Trimble, C. L., Franke, E., Hale, J. S., Woollam, J. A.

    المصدر: AIP Conference Proceedings; 2000, Vol. 504 Issue 1, p797, 6p, 3 Graphs

    مصطلحات موضوعية: ELECTROCHROMIC devices, SPACE vehicles


    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Phonons and Free Carriers in a Strained Hexagonal GaN-AlN Superlattice Measured by Infrared Ellipsometry and Raman Spectroscopy.

    المؤلفون: Schubert, M., Kasic, A., Tiwald, T. E., Woollam, J. A., Harle, V., Scholz, F.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library; 1999, Vol. 595 Issue 1, p1-6, 6p


    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS — أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني — حفظ البحث