Accurate modeling of RF passive component in deep submicron process

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Accurate modeling of RF passive component in deep submicron process
المؤلفون: Tsai, Yu-Shun, Chou, Hung-Wen, Lin, Yin-Chang, Horng, Tzyy-Sheng
المصدر: 2010 International Conference on Applications of Electromagnetism and Student Innovation Competition Awards (AEM2C)
بيانات النشر: IEEE
سنة النشر: 2010
نوع الوثيقة: conference object
اللغة: unknown
DOI: 10.1109/aem2c.2010.5578806
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/aem2c.2010.5578806Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/5568096/5578751/05578806.pdf?arnumber=5578806Test
رقم الانضمام: edsbas.30BA3D6F
قاعدة البيانات: BASE