-
1مؤتمر
المؤلفون: Kildemo, Morten, Aas, Lars M. S., Ellingsen, Pål G., Hemmen, Henrik, Hansen, Elisabeth L., Fossum, Jon O.
المساهمون: Lehmann, Peter H., Osten, Wolfgang, Gastinger, Kay
المصدر: SPIE Proceedings ; Optical Measurement Systems for Industrial Inspection VII ; ISSN 0277-786X
-
2مؤتمر
المؤلفون: Buchanan, Mark, Aas, Gaute M., Moshfegh, Bahram
المصدر: Proceedings of SPIE ; ISSN 0277-786X