دورية أكاديمية
Evaluation of Single Event Upset Susceptibility of FinFET-based SRAMs with Weak Resistive Defects
| العنوان: | Evaluation of Single Event Upset Susceptibility of FinFET-based SRAMs with Weak Resistive Defects |
|---|---|
| المؤلفون: | Copetti, Thiago, Cardoso Medeiros, Guilherme, Taouil, Mottaqiallah, Hamdioui, Said, Bolzani Poehls, Letícia, Balen, Tiago |
| المصدر: | Journal of electronic testing 37(3), 383-394 (2021). doi:10.1007/s10836-021-05949-x |
| بيانات النشر: | Springer Science + Business Media B.V. |
| سنة النشر: | 2021 |
| المجموعة: | RWTH Aachen University: RWTH Publications |
| مصطلحات موضوعية: | info:eu-repo/classification/ddc/670 |
| جغرافية الموضوع: | DE |
| نوع الوثيقة: | article in journal/newspaper |
| اللغة: | English |
| العلاقة: | info:eu-repo/semantics/altIdentifier/issn/0923-8174; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/wos/WOS:000656823500001; info:eu-repo/semantics/altIdentifier/issn/1573-0727; https://publications.rwth-aachen.de/record/820083Test; https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-2021-05400%22Test |
| الإتاحة: | https://doi.org/10.1007/s10836-021-05949-xTest https://doi.org/10.18154/RWTH-2021-05400Test https://publications.rwth-aachen.de/record/820083Test https://publications.rwth-aachen.de/search?p=id:%22RWTH-2021-05400%22Test |
| حقوق: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| رقم الانضمام: | edsbas.7D1FAA7C |
| قاعدة البيانات: | BASE |
| الوصف غير متاح. |