Ellipsometric Analysis of Plasma Deposited and Plasma Etched Materials

التفاصيل البيبلوغرافية
العنوان: Ellipsometric Analysis of Plasma Deposited and Plasma Etched Materials
المؤلفون: Woollam, J. A.
المصدر: Plasma Processing of Semiconductors ; page 375-395 ; ISBN 9789401064866 9789401158848
بيانات النشر: Springer Netherlands
سنة النشر: 1997
نوع الوثيقة: book part
اللغة: unknown
ردمك: 978-94-010-6486-6
978-94-011-5884-8
94-010-6486-5
94-011-5884-3
DOI: 10.1007/978-94-011-5884-8_20
الإتاحة: https://doi.org/10.1007/978-94-011-5884-8_20Test
رقم الانضمام: edsbas.699AE24F
قاعدة البيانات: BASE
الوصف
ردمك:9789401064866
9789401158848
9401064865
9401158843
DOI:10.1007/978-94-011-5884-8_20