يعرض 1 - 10 نتائج من 18 نتيجة بحث عن '"Selviah, David R."', وقت الاستعلام: 1.05s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
  2. 2
    مؤتمر

    المساهمون: Tabor, Christopher E., Kajzar, François, Kaino, Toshikuni, Koike, Yasuhiro

    المصدر: SPIE Proceedings ; Organic Photonic Materials and Devices XVII ; ISSN 0277-786X

  3. 3
    مؤتمر

    المساهمون: Broquin, Jean Emmanuel, Nunzi Conti, Gualtiero

    المصدر: Integrated Optics: Devices, Materials, and Technologies XVIII ; SPIE Proceedings ; ISSN 0277-786X

  4. 4
    مؤتمر

    المساهمون: Broquin, Jean Emmanuel, Nunzi Conti, Gualtiero

    المصدر: Integrated Optics: Devices, Materials, and Technologies XVIII ; SPIE Proceedings ; ISSN 0277-786X

  5. 5
    مؤتمر

    المساهمون: Witzigmann, Bernd, Osinski, Marek, Henneberger, Fritz, Arakawa, Yasuhiko

    المصدر: SPIE Proceedings ; Physics and Simulation of Optoelectronic Devices XXI ; ISSN 0277-786X

  6. 6
    مؤتمر

    المساهمون: Broquin, Jean Emmanuel, Nunzi Conti, Gualtiero

    المصدر: SPIE Proceedings ; Integrated Optics: Devices, Materials, and Technologies XVI ; ISSN 0277-786X

  7. 7
    مؤتمر

    المساهمون: Glebov, Alexei L., Chen, Ray T.

    المصدر: SPIE Proceedings ; Optoelectronic Interconnects and Component Integration IX ; ISSN 0277-786X

  8. 8
    مؤتمر

    المؤلفون: Selviah, David R.

    المساهمون: Eldada, Louay A., Lee, El-Hang

    المصدر: SPIE Proceedings ; Optoelectronic Integrated Circuits XI ; ISSN 0277-786X

  9. 9
    مؤتمر

    المؤلفون: Rashed, Atef M., Selviah, David R.

    المساهمون: Armitage, John C., Lessard, Roger A., Lampropoulos, George A.

    المصدر: SPIE Proceedings ; Photonics North 2004: Photonic Applications in Telecommunications, Sensors, Software, and Lasers ; ISSN 0277-786X

  10. 10
    مؤتمر

    المساهمون: Watkins, Wendell R., Clement, Dieter, Reynolds, William R.

    المصدر: Targets and Backgrounds X: Characterization and Representation ; SPIE Proceedings ; ISSN 0277-786X