التفاصيل البيبلوغرافية
| العنوان: |
Characterization Of Electron Traps Resulting From Oxygen Precipitation In Cz Silicon |
| المؤلفون: |
Whitfield, J., Varker, C. J., Chan, S. S., Wilson, S. R., Carpenter, R. W., Krause, S. J., Weber, E. R. |
| المساهمون: |
Sadana, Devindra K., Current, Michael I. |
| المصدر: |
Advanced Processing and Characterization of Semiconductors III ; SPIE Proceedings ; ISSN 0277-786X |
| بيانات النشر: |
SPIE |
| سنة النشر: |
1986 |
| نوع الوثيقة: |
conference object |
| اللغة: |
unknown |
| DOI: |
10.1117/12.961197 |
| الإتاحة: |
https://doi.org/10.1117/12.961197Test |
| رقم الانضمام: |
edsbas.6556E7AE |
| قاعدة البيانات: |
BASE |
