-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Xiao, Meng, Song, Yuning, Liu, Haoliang, Zhang, Mengdie, Du, Boxue, Xing, Zhaoliang
المساهمون: National Nature Science Foundation of China
المصدر: IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation ; volume 31, issue 2, page 625-632 ; ISSN 1070-9878 1558-4135
مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/tdei.2024.3361396Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/94/10485577/10418102.pdf?arnumber=10418102Test -
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Xiao, Meng, Zhao, Yishuo, Song, Yuning, Du, Boxue
المساهمون: National Natural Science Foundation of China
المصدر: IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation ; volume 31, issue 2, page 666-673 ; ISSN 1070-9878 1558-4135
مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/tdei.2024.3350527Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/94/10485577/10381804.pdf?arnumber=10381804Test -
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Xiao, Meng, Wang, Kaixu, Song, Yuning, Du, Boxue
المساهمون: National Natural Science Foundation of China
المصدر: IEEE Transactions on Dielectrics and Electrical Insulation ; volume 31, issue 1, page 176-183 ; ISSN 1070-9878 1558-4135
مصطلحات موضوعية: Electrical and Electronic Engineering
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/tdei.2023.3334706Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/94/10415316/10322735.pdf?arnumber=10322735Test -
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Wang, Hui, Zhang, Changshuai, Zhao, Guochao, Song, Yuning, Fu, Peng, Zhou, Guoqiang
المساهمون: National Natural Science Foundation of China, Liaoning Provincial Natural Science Foundation of China
المصدر: IEEE Access ; volume 8, page 168773-168783 ; ISSN 2169-3536
مصطلحات موضوعية: General Engineering, General Materials Science, General Computer Science
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/access.2020.3023766Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/6287639/8948470/09195448.pdf?arnumber=9195448Test -
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Liu, Liang, Song, Yuning, Zhang, Haiyang, Ma, Huadong, Vasilakos, Athanasios V.
المصدر: IEEE Transactions on Computers ; volume 64, issue 3, page 818-831 ; ISSN 0018-9340 1557-9956 2326-3814
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/tc.2013.229Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx7/12/7031983/06684158.pdf?arnumber=6684158Test
