-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Ruddy, F.H., Dulloo, A.R., Seidel, J.G., Das, M.K., Sei-Hyung Ryu, Agarwal, A.K.
المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science ; volume 53, issue 3, page 1666-1670 ; ISSN 0018-9499
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/tns.2006.875151Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/23/34478/01645085.pdf?arnumber=1645085Test -
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Singh, R., Capell, D.C., Das, M.K., Lipkin, L.A., Palmour, J.W.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices ; volume 50, issue 2, page 471-478 ; ISSN 0018-9383
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/ted.2002.808511Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/16/26902/01196093.pdf?arnumber=1196093Test -
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Christini, D.J., Stein, K.M., Hao, S.C., Markowitz, S.M., Mittal, S., Slotwiner, D.J., Iwai, S., Das, M.K., Lerman, B.B.
المصدر: IEEE Transactions on Biomedical Engineering ; volume 50, issue 7, page 855-862 ; ISSN 0018-9294
مصطلحات موضوعية: Biomedical Engineering
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/tbme.2003.813535Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/10/27145/01206494.pdf?arnumber=1206494Test -
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Chung, G.Y., Tin, C.C., Williams, J.R., McDonald, K., Chanana, R.K., Weller, R.A., Pantelides, S.T., Feldman, L.C., Holland, O.W., Das, M.K., Palmour, J.W.
المصدر: IEEE Electron Device Letters ; volume 22, issue 4, page 176-178 ; ISSN 0741-3106 1558-0563
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/55.915604Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/55/19783/00915604.pdf?arnumber=915604Test -
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Lam, M.P., Das, M.K., Pan, J.N., Kornegay, K.T., Cooper, J.A., Melloch, M.R.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices ; volume 45, issue 2, page 565-567 ; ISSN 0018-9383
الإتاحة: https://doi.org/10.1109/16.658696Test
http://xplorestaging.ieee.org/ielx3/16/14348/00658696.pdf?arnumber=658696Test