-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Nagy, Daniel1, Kalna, Karol1, Elmessary, Muhammad A.1,2, Aldegunde, Manuel3, Seoane, Natalia4, Indalecio, Guillermo4, García-Loureiro, Antonio J.4, Lindberg, Jari5, Dettmer, Wulf6, Perić, Djordje6
المصدر: Solid-State Electronics. Feb2017, Vol. 128, p17-24. 8p.
مصطلحات موضوعية: *SILICON nanowires, *FINITE element method, *MONTE Carlo method
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Benbakhti, Brahim1 brahim@elec.gla.ac.uk, Kalna, Karol2, Chan, KahHou1, Towie, Ewan1, Hellings, Geert3, Eneman, Geert3, De Meyer, Kristin3, Meuris, Marc3, Asenov, Asen1
المصدر: Microelectronic Engineering. Apr2011, Vol. 88 Issue 4, p358-361. 4p.
مصطلحات موضوعية: *QUANTUM wells, *ELECTRIC leakage, *TRANSISTORS, *MONTE Carlo method, *COMPUTER-aided design, *THICKNESS measurement, *ELECTRIC currents, *METAL oxide semiconductor field-effect transistors
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Adenekan, Olujide A.1 (AUTHOR) 843372@swansea.ac.uk, Holland, Paul1 (AUTHOR), Kalna, Karol1 (AUTHOR)
المصدر: Microelectronics Reliability. Aug2019, Vol. 99, p213-221. 9p.
مصطلحات موضوعية: *BREAKDOWN voltage, *METAL oxide semiconductor field-effect transistors, *METAL semiconductor field-effect transistors, *LOW voltage systems, *ARCHITECTURE
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Adenekan, Olujide1 843372@swansea.ac.uk, Holland, Paul1, Kalna, Karol1
المصدر: Microelectronics Journal. Nov2018, Vol. 81, p94-100. 7p.
مصطلحات موضوعية: *METAL oxide semiconductor field-effect transistors, *ELECTRIC potential, *SIMULATION methods & models, *CALIBRATION, *DOPING agents (Chemistry)
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Ubochi, Brendan1 B.Ubochi.840649@swansea.ac.uk, Faramehr, Soroush1, Ahmeda, Khaled1, Igić, Petar1, Kalna, Karol1
المصدر: Microelectronics Reliability. Apr2017, Vol. 71, p35-40. 6p.
مصطلحات موضوعية: *GALLIUM nitride, *CALIBRATION, *MODULATION-doped field-effect transistors, *SEPARATION (Technology), *RADIO frequency
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Benbakhti, Brahim1 brahim.benbakhti@gmail.com, Chan, KahHou1, Towie, Ewan1, Kalna, Karol2, Riddet, Craig1, Wang, Xingsheng1, Eneman, Geert3,4,5, Hellings, Geert3,4, De Meyer, Kristin3,4, Meuris, Marc3, Asenov, Asen1
المصدر: Solid-State Electronics. Sep2011, Vol. 63 Issue 1, p14-18. 5p.
مصطلحات موضوعية: *NUMERICAL analysis, *QUANTUM wells, *COMPLEMENTARY metal oxide semiconductors, *INTERFACES (Physical sciences), *METAL oxide semiconductor field-effect transistors, *PERFORMANCE evaluation